판매용 중고 METRICON PC 2010 #9244730

ID: 9244730
빈티지: 2000
Prism coupler Wafer measurement: Refractive index Thickness: Thin films layer stack Dual film measurements Localization of modes in waveguides Measurable refractive index: 2.45 Operating wavelength: 632.8 nm, 1320 nm & 1554 nm 2000 vintage.
METRICON PC 2010은 고해상도 석판 이미지를 검사하도록 설계된 자동 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 웨이퍼를 스캔할 때 이상 (Anomalies) 및 기타 결함을 실시간으로 감지할 수 있습니다. PC 버전은 저비용 (LC) 과 다양한 결함을 신속하게 감지하는 기능 때문에 시리즈에서 가장 인기가 있습니다. 이 장치의 PC 버전은 메트릭 기반 스캐닝 (scanning) 소프트웨어를 사용하여 빠른 속도로 웨이퍼 이미지를 캡처합니다. 이 이미지는 3 미크론으로 촬영되어 가장 작은 이상까지 식별 할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 정확한 결과를 얻기 위해 이 (가) 배치된 환경을 고려합니다. 기계는 긁힘, 구덩이, 범프, 이물질 등 다양한 웨이퍼 결함을 감지 할 수 있습니다. 저전압 (low voltage) 신호를 감지하여 도구가 칩 고장을 일으킬 수 있는 문제를 감지할 수도 있습니다. 이 자산은 빠른 속도와 정확성 외에도 전력 소비량이 적습니다 (영문). 따라서 중단 없이 모델을 지속적으로 실행할 수 있도록 하면서 운영 비용을 절감할 수 있습니다 (영문). 이 장비는 매우 안정적이며, 장기간 성능을 발휘할 수 있도록 설계되었습니다. 또한 직관적 인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 가장 초보자 (novice) 도 시간을 너무 많이 들이지 않고도 신속하게 시스템에 익숙해질 수 있습니다. 이 장치는 다양한 업계 표준 기술, 소프트웨어 패키지 (Software Package) 와 호환되도록 설계되어 있어 액세스 용이성이 향상되고 통합이 용이합니다. 전반적으로 METRICON PC-2010은 고급 석판 이미지를 검사하는 데 필수적인 도구이며, 빠르고 정확한 결과를 제공합니다. 저비용· 고성능 마스크· 웨이퍼검사의 표준이 됐다.
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