판매용 중고 METRICON PC 2010 #9134609

METRICON PC 2010은 Metronics, Inc.에서 설계 및 제조 한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 제품은 웨이퍼 직물 (wafer fabs) 과 반도체 제조 (semiconductor manufacturing) 의 웨이퍼 및 마스크 검사, 학술 연구 및 생산 관련 분야를 위해 설계되었습니다. 이 시스템은 자체 구동 "스마트 프레임", 컨트롤러/호스트 컴퓨터, 2 개의 비디오 카메라, 2 개의 모니터 및 여러 장착 위치로 구동되어 다양한 구성 요소를 수용합니다. METRICON PC-2010 (METRICON PC-2010) 은 Metronic의 고급 이미지 처리 기술을 기반으로 미세한 결함과 웨이퍼 기능을 일관성 있고 신속하게 검사하고 측정합니다. 웨이퍼 (wafer) 및 마스크 (mask) 표면에서 패턴과 오염물을 감지하는 데 다양한 비파괴 옵토 기계적 방법이 사용됩니다. 여기에는 고감도 밝기 및 다크 필드 검사, 스테레오 비전 검사, 라인 스캔 및 이미지 스티칭이 포함됩니다. 이 장치는 16 비트 동적 범위 (dynamic range) 정확도를 가지며, 넓은 시야를 사용하여 기존 방법을 사용하여 찾기 어려운 결함 및 이상을 감지합니다. 본 소프트웨어는 프로세스 결함을 보다 효율적으로 파악할 수 있는 패턴 인식 (pattern recognition) 기능과 결함 분류/보고 기능을 제공하여 결함의 분류/추적을 용이하게 합니다. 또한 다양한 디스플레이 설정, 다양한 샘플링 모드, 정확하고 반복 가능한 결과를 제공하는 다양한 이미지 처리 (image processing) 알고리즘을 포함하여 유연한 프로그래밍 가능한 사용자 기본 설정을 제공합니다. PC 2010은 1.75 인치, 2.5 인치, 3.2 인치, 4 인치 및 6 인치 웨이퍼를 포함하여 여러 웨이퍼 크기와 여러 마스크 크기에 대한 검사를 처리 할 수 있습니다. 빠른 스캐닝 속도, 고해상도, 조절 가능한 작업 거리를 통해 고밀도 다이 (die) 및 타이트한 피치 웨이퍼 (pitch wafer) 를 효율적으로 정확하게 검사할 수 있습니다. 이 기계에는 다양한 각도에서 이미지를 볼 수 있는 광각 (wide-angle) 디지털 카메라와 더 빠른 아카이빙/검색을 위한 내장 CD 기록 메커니즘이 장착되어 있습니다. 안전 및 보안 측면에서 PC-2010은 국가 및 국제 안전 표준 (National and International Safety Standards) 을 준수하며, 무단 액세스가 허용되지 않도록 물리적/소프트웨어 보호 장치를 모두 포함합니다. 이 도구는 또한 유지 관리가 완전히 낮으며, 가끔 교정 (calibration) 만 있으면 정확성과 성능이 보장됩니다. 전반적으로 METRICON PC 2010은 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 자산으로, 정확한 결함 감지 및 분류를 제공하도록 설계되었습니다. 탁월한 이미징 기능, 빠른 스캐닝 속도, 광범위한 패턴 인식 알고리즘으로 인해 최신 반도체 제조 공정에 이상적인 검사 모델이 됩니다.