판매용 중고 METRICON 2010 #9383448

METRICON 2010은 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 반도체 생산, 도량형 및 결함 분석에 자주 사용됩니다. 이 시스템은 독특한 스냅 샷 기울기 검사 기술을 사용하여 200, 300, 450mm 직경 웨이퍼 (wafer) 와 같은 대형 기판을 검사하여 전체 웨이퍼를 한 번에 덮을 수 있습니다. 검사 장치에는 전체 시야에 걸쳐 조명을 균일하게 제공하는 통합 매트릭스 조명 모듈 (integrated matrix illumination module) 이 포함되어 있습니다. 이를 통해 기계는 고감도 (high sensitivity) 와 고품질 (high quality) 의 결함을 감지할 수 있습니다. 검사 도구는 고해상도 카메라, 광원, 광학, 패턴 인식 소프트웨어로 구성되어 있습니다. "패턴 인식 소프트웨어 (pattern recognition software) '를 통해 검사 자산은 결함 로컬라이제이션에만 초점을 맞추지 않고 패턴 설계와 관련된 결함을 정확하게 파악하고 분류할 수 있습니다. 또한 자동 패턴 일치 (pattern matching) 및 수동 스캔 옵션도 제공합니다. 2010 년에는 기하학 (geometry) 이나 결함 영역을 배경에서 분리할 수 있는 종합적인 이미지 처리 패키지도 포함되어 있습니다. 이를 통해 모델은 샘플의 특정 영역을 분석하고, 인간 눈에 의해 감지되지 않을 수있는 결함을 정확하게 식별 할 수 있습니다. 즉, 모델 (Model) 은 샘플의 특정 영역을 분석할 수 있습니다. 이미지 처리 패키지에는 binarization, smoothing 및 unsharp 마스킹과 같은 여러 이미지 조작 도구가 포함되어 있습니다. 장비 자체는 고도의 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 로 제어됩니다. GUI 는 사용자에게 친숙한 메뉴와 간편한 드래그 앤 드롭 (drag-and-drop) 기능을 제공하여 매우 쉽게 작동할 수 있습니다. 또한, 사용자 정의 가능한 템플릿과 매크로를 구축하여 반복적인 작업을 단순화하고, 검사 조건, 마스크 설계 규칙, 이미지 처리 기법 등의 매개변수를 사용자 정의할 수 있습니다. 전반적으로 METRICON 2010은 정교한 옵틱과 이미지 처리, 자동화, 친숙한 GUI를 갖춘 고급 시스템입니다. 고해상도 카메라, 패턴 인식 소프트웨어 (pattern recognition software), 이미지 처리 패키지는 마스크 및 웨이퍼 어플리케이션을 위한 강력하면서도 비용 효율적인 검사 장치입니다.