판매용 중고 METRICON 2010/M #293767526

METRICON 2010/M (METRICON 2010/M) 은 강력한 웨이퍼 및 마스크 검사 장비로, 요구 사항이 높은 웨이퍼 및 마스크 요구 사항을 충족하는 높은 처리량과 고해상도 기능을 제공합니다. 이 시스템은 고급 이미지 처리 (advanced image processing) 및 이미징 (imaging) 기술을 활용하여 서브픽셀 수준에서 웨이퍼 및 마스크 패턴과 결함을 검사합니다. 처리량과 정확도가 높은 2차원 이미지 센서를 갖춘 대용량 (Large and Resolution-Rich) 이미징 장치를 갖추고 있습니다. 정합성 (Consistency) 과 결함을위한 여러 패턴을 비교하기 위해 optics 및 Dual-beam 패턴 비교기가 장착되어 있습니다. 뿐만 아니라, 독자적인 이미징 소프트웨어는 이미지 처리 및 기능 추출 (extraction) 의 속도와 정확성을 최적화하여 특정 웨이퍼 (wafer) 또는 마스크 (mask) 에 대해 사용자 정의 검사 방법을 만들 수 있습니다. 이 기계는 모듈식 (modular) 설계를 통해 유연성을 제공하므로 프로세스 요구 사항에 맞게 구성을 조정할 수 있습니다. 소프트웨어 아키텍처는 모듈화되고 병렬화되어 있어 검사 순서 (Inspection Order) 나 흐름 (Flow) 을 효율적으로 제어하여 처리량을 향상시킵니다. 또한 패턴화되지 않은 웨이퍼, 복잡한 형상이있는 마스크, 격자 구조 등 다양한 장치를 지원합니다. 또한 METRICON 2010/M에는 통합 작업 및 테스트 제어가 포함되어 있어 결과의 정확성과 추적이 향상되었습니다. 이렇게 하면 팬 아웃 (fan-out) 및 레이어 시간 (layer time) 과 같은 모든 프로세스 및 검사 매개변수가 기록되고 모니터링되어 신뢰성이 향상되고 프로세스 제어가 향상됩니다. 또한 이 도구에는 손쉽게 작업할 수 있는 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 컨트롤이 포함되어 있으며, 이미지 검사 환경에 연결할 수 있습니다. METRICON 2010/M은 매우 복잡한 웨이퍼 및 마스크 패턴을 검사하고 테스트하는 데 적합한 도구입니다. 다른 시스템에 비해 뛰어난 이미지 해상도 (image resolution), 뛰어난 유연성 (Flexibility), 구성 및 통합 작업 (Integrated Operations) 및 테스트 제어 (Test Control) 기능을 제공합니다. 이러한 기능을 통해 프로세스 제어 향상, 결함 감지 향상, 수익률 향상 등의 효과를 얻을 수 있습니다. 그 결과, 그것 은 "웨이퍼 '와" 마스크' 구조 를 자동화 하고 정확 하게 검사 하는 데 이상적 이다.