판매용 중고 MCBAIN Z-Scope #9276209

MCBAIN Z-Scope
ID: 9276209
System OLYMPUS BHMJ Trinocular inspection measuring microscope included.
MCBAIN Z-Scope (MCBAIN Z-Scope) 는 반도체 산업의 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계된 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템입니다. 고급 기능에는 자동 웨이퍼 (automated wafer) 및 마스크 검사 (mask inspection), 시각 검사 및 높이 측정, 초점 및 조명기 유형을 포함한 현미경 매개변수의 전체 제어 등이 포함됩니다. Z-Scope에는 고속 전동 X-Y-Z 스테이지, 조절 가능한 줌 렌즈, 신뢰성이 높은 통합 하드웨어 및 소프트웨어, 대형 13 "LCD 터치 스크린 모니터 및 독점 소프트웨어 제품군이 포함 된 고해상도 CCD (charge-coupled device) 카메라의 독특한 조합이 있습니다. 운동화 된 단계 는 "마스크 '나" 웨이퍼' 를 통하여 현미경 을 신속 하게 정확 하게 움직 일 수 있게 한다. 높은 정확도의 CCD 카메라와 조절 가능한 확대/축소 렌즈를 사용하면 조사 중인 장치의 고해상도 뷰를 볼 수 있습니다. 통합 하드웨어 (Integrated Hardware) 및 소프트웨어를 통해 사용자는 현미경의 매개변수를 정확하게 제어할 수 있으므로 마스크 (Mask) 또는 웨이퍼 (Wafer) 에서 매우 작은 불일치 또는 결함 영역을 감지할 수 있습니다. 대형 13 "LCD 터치 스크린 모니터를 사용하면 조사 중인 장치를 크게 볼 수 있습니다. 독점 소프트웨어 제품군을 사용하면 데이터의 전체 시각화 (full visualization), 데이터 세트 비교 (comparison of data set), 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 등 다양한 측정 및 분석 기능을 사용할 수 있습니다. MCBAIN Z-Scope (MCBAIN Z-Scope) 는 웨이퍼 및 마스크 검사 측면에서 안정적이고 정확한 결과를 제공하며, 사용하기 쉽고 직관적인 소프트웨어 제품군을 제공합니다. 시스템의 신뢰성 있고 고성능 (HPE) 기능을 통해 결함 또는 불일치를 빠르고 정확하게 찾을 수 있으며, 운영 시간을 단축하고 처리량을 전반적으로 높일 수 있습니다. "와퍼 '와" 마스크' 를 매우 정확 하게 검사 하는 능력 은 제조 된 제품 의 질 을 유지 한다.
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