판매용 중고 MATSUSHITA PSX307-M #9394953

MATSUSHITA PSX307-M Mask & Wafer Inspection Equipment는 반도체 마스크 및 대형 웨이퍼의 결함 검사를 수행하는 고급 고성능 시스템입니다. 이 장치는 DOE (Advanced Optical Double-Pyramid Deflectometry) 기술을 사용하여 각 반도체 장치의 모양과 표면을 정확하게 측정하여 심각한 결함 및 정확한 위치를 감지 할 수 있습니다. 온보드, 고해상도 카메라는 검사된 웨이퍼 (Wafer) 또는 마스크 (Mask) 의 이미지 캡처를 위해 머신과 통합되며, 최상의 세부 사항까지 검사할 수 있습니다. 이 도구는 또한 포괄적 인 결함 발견 및 측정을 위해 고급 3 차원 광학 감지 기술 (3D & OS) 을 활용합니다. 이 고급 에셋을 사용하면 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 에서 작은 결함을 감지하고 표면 모양 (surface shape), 높이 (height) 및 기타 물리적 특성을 정확하게 측정할 수 있습니다. 이 데이터를 사용하여 장치의 크기와 모양을 측정하여 정확한 품질 제어 (Quality Control) 를 보장할 수 있습니다. PSX307-M에는 3D & OS 모델과 연동하여 정확한 결함 검사를 가능하게 하는 자동 정렬 기능이 내장되어 있습니다 (영문). 이 자동 정렬 기능을 사용하면 큰 웨이퍼에서도 정확도가 높은 분 (minute) 결함을 감지할 수 있습니다. 또한, 장비에는 고효율 결함 검사를 위해 실시간 결함 제거를 수행하는 MATMESH (Advanced Image Analysis Tool) 가 장착되어 있습니다. 또한 MATSUSHITA PSX307-M (MATSUSHITA PSX307-M) 은 다양한 사용자 친화적 메뉴와 기능을 제공하여 작업을 쉽게 수행할 수 있습니다. 이 시스템은 수동 작업 모드 (manual operation mode) 와 자동 작업 모드 (automatic operation mode) 를 갖추고 있어 사용자의 요구에 맞게 작동할 수 있습니다. 또한, 다양한 프로그래밍 언어를 지원함으로써 사용자는 특정 요구에 대한 사용자 정의 검사 프로그램을 개발 할 수 있습니다. 요약하면, PSX307-M Mask & Wafer Inspection Unit은 반도체 마스크 및 대형 웨이퍼에 대한 결함 검사를 수행하는 고급 고성능 기계입니다. 고급 광학 및 3 차원 감지 기술을 활용한 이 도구는 높은 정확도로 미세한 결함을 감지할 수 있으며, 자동 정렬 (auto-alignment) 및 이미지 분석 (image analysis) 기능이 내장되어 있어 운영 효율성이 더욱 향상됩니다. 사용자에게 친숙한 다양한 메뉴와 기능을 갖춘 MATSUSHITA PSX307-M 은 자동화된 마스크 및 웨이퍼 검사를 위한 탁월한 선택입니다.