판매용 중고 MATSUSHITA M-515L-II #9231849

MATSUSHITA M-515L-II (MATSUSHITA M-515L-II) 는 다양한 제조 단계에서 여러 웨이퍼 또는 마스크에 대한 자동 시각적 검사를 제공하기 위해 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 조합 시스템은 CCD 현미경, 패턴 인식 장치 (pattern recognition unit) 및 이미지 처리 머신 (image processing machine) 으로 구성되어 안정적이고 정확한 시각적 검사를 보장합니다. CCD 현미경의 전력 범위는 6 배 ~ 200 배입니다. 컨트롤러에는 포인팅 (pointing) 및 추적 (tracking) 툴이 있어 wafer 또는 mask 의 여러 섹션을 쉽게 선택하고 추적할 수 있습니다. 패턴 인식 자산에는 현미경에 내장 된 조명 및 패턴 인식 요소가 포함됩니다. 이 모델은 프로그래밍 가능한 신경망을 사용하여 마스크 (mask) 또는 웨이퍼 (wafer) 의 패턴을 정확하게 분석합니다. 패턴 인식 (pattern recognition) 장비에는 마스크 (mask) 나 웨이퍼 (wafer) 의 여러 부분을 정확하게 매핑하고 결함의 좌표를 결정하는 알고리즘도 포함되어 있습니다. 또한, M-515L-II에는 복잡한 이미지 분석 작업을 수행 할 수있는 이미지 처리 시스템이 있습니다. 이 단위에는 수차, 경량 침투, 균열 및 기타 마스크 또는 웨이퍼 (wafer) 를 포함한 다양한 유형의 결함을 감지하고 분류하는 알고리즘이 포함됩니다. 또한 [노이즈 감소] 알고리즘을 사용하면 이미지 노이즈를 줄이고 이미지 선명도를 향상시킬 수 있습니다. 또한, MATSUSHITA M-515L-II에는 자동 교정 기계 (automatic calibration machine) 가 있는데, 이를 통해 현미경의 교정 매개변수가 정확하게 설정되고 이미지가 항상 뛰어난 정확도로 캡처됩니다. 이 도구는 또한 다양한 제조 단계에서 여러 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 를 처리 할 수 있습니다. 마지막으로 M-515L-II는 작동 및 유지 보수가 쉽습니다. 사용자 친화적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 와 다양한 소프트웨어 툴 (Software Tools) 을 통해 자산을 가장 효율적이고 효과적인 방식으로 적절하게 유지, 사용할 수 있습니다.