판매용 중고 LEICA / VISTEC MIS 200 #9262659

LEICA/VISTEC MIS 200 Mask and Wafer Inspection Equipment는 광학 이미징 시스템과 고급 3D 이미징 알고리즘을 결합하여 IC (IC) 기판 및 마스크를 검사하는 포괄적인 솔루션을 제공하는 고급 기술입니다. 이 시스템은 IC 테스트 차량의 광학 검사, 마스크 조립, 전기 검증 등 다양한 고해상도 검사 작업을 지원합니다. 모듈식 장치 (Modular Unit) 는 매우 다양하며 모든 생산 요구 사항을 충족하도록 완벽하게 사용자 정의할 수 있습니다. LEICA MIS 200 기계는 적은 설치 공간과 적은 설치 비용으로 효율적인 설계를 갖추고 있습니다. 이 도구에는 강력한 컴퓨터 프로세서와 고속 메모리가 장착되어 있습니다. 컴퓨터 자산은 향상된 성능을 위해 디지털 신호 프로세서 (DSP) 에 연결됩니다. 또한 핫스왑 방식의 하드 드라이브를 통해 손쉬운 데이터 저장 및 검색을 수행할 수 있습니다. IC 테스트 차량과 마스크를 자세히 검사하기위한 광학 현미경과 와이드 필드 현미경이 있습니다. 이 모델에는 집적 회로를 검사하기위한 다양한 3D 이미징 알고리즘이 장착되어 있습니다. 이러한 알고리즘은 IC의 지형을 분석하고, 열린 회로, 반바지, 브리징과 같은 결함을 감지하고, IC의 정확한 시각적 표현을 제공 할 수 있습니다. 따라서 신뢰성, 정확성 및 규정 준수를 보장할 수 있습니다. 이 알고리즘은 또한 결함을 빠르고 정확하게 감지하고 분류하는 데 도움이됩니다. VISTEC MIS 200에는 다양한 고급 지표 및 진단 도구가 포함되어 있습니다. 이 강력한 지표 (Metrics) 는 여러 측정 결과를 분석, 표시하여 기술자가 회로 (Circuit) 나 마스크 (Mask) 의 중요한 문제를 식별할 수 있도록 합니다. 이 장비는 업계 표준 프로토콜 및 장치와 호환되며, 자동화된 테스트 장비, 광학 시스템 및 기타 하드웨어에 연결할 수 있습니다. MIS 200 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템은 모든 IC 구성 응용 프로그램에 이상적인 솔루션입니다. 첨단 이미지 처리 (Advanced Imaging) 알고리즘은 모든 IC 에 대해 높은 수준의 정확성과 신뢰성을 유지하는 데 도움이 되며, 맞춤식 구성과 강력한 툴을 통해 기술자가 모든 잠재적 결함을 신속하고 쉽게 진단할 수 있습니다.