판매용 중고 LEICA / VISTEC MIS 200 #9250500
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라이카/비스텍 미스 200 (LEICA/VISTEC MIS 200) 은 생산 시설이 최단 시간 내에 가장 높은 품질의 반도체 장치를 달성하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 낮은 TCO (소유 비용) 와 낮은 다운타임으로 높은 수준의 정확성과 해상도를 제공합니다. 라이카 미스 200 (LEICA MIS 200) 은 최첨단 기능으로 빠른 속도로 작업 할 수 있으며, 전통적인 기술로 간과 할 수있는 작은 결함을 인식하고 측정할 수 있습니다. 고급 감지 모듈 (Advanced Detection Module) 덕분에 양호한 구성 요소와 나쁜 구성 요소를 구분할 수 있습니다. 예를 들어, 매장 된 결함, 표면 전위의 변동 감지, 선 너비 상관 관계 분석, 단일 칩 내의 광학 및 전기 매개변수 모두 비교할 수 있습니다. 이 장치의 소프트웨어는 직관적이며, 간단한 제어, 다양한 디스플레이 기능, 그리고 모든 구성 요소에 대한 매우 정확한 측정을 제공합니다. 라인 너비 프로브, 지형, 전기 및 재료 특성을 포함한 여러 유형의 분석 도구를 지원합니다. VISTEC MIS 200의 주요 구성 요소에는 고급, 견고한 이미징 기계, CCD 카메라, 어댑터 카드, 컨트롤러 보드 및 광학 일관성 단층 촬영 도구가 포함됩니다. 이 모든 컴포넌트 (component) 는 가장 작은 컴포넌트의 얇은 서피스를 검사할 때 전례없는 정밀도와 반복성 (repeatability) 을 제공합니다. MIS 200 은 다양한 전용 소프트웨어 업그레이드와 향상된 기능을 사용하여 디바이스 테스트 및 검증을 지원합니다. 또한 포괄적인 보고 기능을 갖추고 있으며, 각 구성 요소에 대해 상세한 보고서를 생성할 수 있습니다. 정밀도를 보장하기 위해 에셋은 다양한 정교한 알고리즘을 사용하여 컴포넌트 서피스 (component surface) 에 있을 수 있는 모든 문제를 검색, 분석, 보고합니다. 이 모델은 다운타임, TCO, False Alarms 비율이 낮은 초고성능 (Ultra-High) 장비를 찾는 고객에게 적합한 툴입니다. 고유한 기능과 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 LEICA/VISTEC MIS 200은 모든 반도체 생산 라인에 귀중한 추가 기능입니다.
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