판매용 중고 LEICA / VISTEC LDS 3300X #9249372

LEICA / VISTEC LDS 3300X
ID: 9249372
빈티지: 2007
Wafer inspection system 2007 vintage.
LEICA/VISTEC LDS 3300X는 생산량 및 정확도를 극대화하기 위해 설계된 고성능 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 다용도 시스템은 웨이퍼 (Wafer) 와 마스크 검사 (Mask Inspection) 모두에 적합한 선택으로, 두 응용 프로그램의 효율적이고 안정적인 결과를 제공합니다. 이 장치는 정교한 멀티 채널 머신 설계를 활용하여 정확성과 효율성을 향상시킵니다. LEICA LDS 3300X는 미묘한 패턴을 식별하기 위해 강력한 레이저 감지 도구를 갖추고 있으며, 웨이퍼 (wafer) 및 마스크 (mask) 검사 모두에서 최대 정확도와 빠른 처리 시간을 제공합니다. Automated Tool-Kit (자동 툴 키트) 은 데이터 분석과 전반적인 검사를 단순화하며, 가동 중지 시간을 줄여 부품 로드 및 언로드를 자동화합니다. VISTEC LDS 3300X 에셋에는 광학 직교 투사 이미징, 편광 조명 및 UV 이미징, 초점 변형, 초점 감지 라인 스캔 이미징, 고급 플래시 복사 이미징 등의 고급 기능도 있습니다. 이러한 고급 기능을 통해 미세 구조 (Micro Structure) 와 대규모 패턴을 모두 검사할 수 있는 탁월한 정확도와 처리량을 제공합니다 (영문). 또한 LDS 3300X 에는 종합적인 보고 소프트웨어가 장착되어 있어 결함을 신속하게 파악할 수 있으며, 낮은 수준의 패턴을 정확하게 분석하는 데 필요한 툴을 제공합니다 (영문). 또한 전자 디스플레이 (Electronic Display) 및 백라이트 (Back-Lit) 터치 스크린을 통해 심층 검사 및 배치 보고서 분석을 빠르고 쉽게 수행할 수 있습니다. 또한 LEICA/VISTEC LDS 3300X 는 이미 다중 레이저 투사 및 이미징 기술을 지원하도록 업그레이드되어 보다 높은 수준의 정확도와 높은 처리량을 제공합니다. 고급 기능, 사용자 친화적 운영, 효율적인 처리 속도를 갖춘 LEICA LDS 3300X 는 생산량을 극대화하고 웨이퍼 (Wafer) 및 마스크 (Mask) 검사 모두에서 최고의 정확성을 보장하는 이상적인 툴입니다.
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