판매용 중고 LEICA / VISTEC INS 3300 #9244341

LEICA/VISTEC INS 3300은 강력하고 정밀도가 높은 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사 장비로, 반도체 프로세스와 제품 품질을 분석하는 보다 효율적이고 포괄적인 방법을 찾는 사람들에게 적합합니다. 사용자는 디바이스, 마스크, 회로, 웨이퍼의 구성요소와 프로세스를 빠르고, 정확하고, 효율적으로 모니터링, 검사 및 비교할 수 있습니다. 이 장치는 OPC (optical photolithography process control) 및 RET (resolution enhancement technologies) 와 같은 반음계 초점 현미경 및 스캔 표준을 사용하여 결과를 비교 및 분석하는 데 사용할 수있는 고도로 최적화 된 이미지를 만듭니다. 이미지는 매우 정확하며 표면 비 균일 성, 입자의 존재, 마커 밀도를 고려합니다. 이를 통해 결과는 안정적이고, 반복적으로 사용할 수 있으며, 효율적인 품질 모니터링 및 제어가 가능합니다. LEICA INS 3300은 또한 광범위한 자동 및 가이드 검사 및 측정 기능을 갖추고 있습니다. 따라서 수동 입력 (manual entry) 이나 해석 (interpretation) 이 필요 없이 데이터와 결과를 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다. 또한, 광원 자유 레이저 스캔 공정으로 인해 이러한 결과는 완전히 정확하고 반복 가능합니다. 또한, 이 기계는 통합 소프트웨어 스위트 (software suite) 를 갖추고 있으며, 이를 통해 추가 분석 및 조작을 위해 이미지와 데이터를 기계에서 PC로 전송할 수 있습니다. 이를 통해 엔지니어와 과학자들은 수동으로 데이터를 입력하거나 해석하지 않고도 쉽게 결과를 분석, 비교할 수 있습니다. 결론적으로, VISTEC INS 3300은 반도체 프로세스 또는 제품의 데이터를 분석하는 강력하고, 정확하고, 신뢰할 수있는 방법을 찾는 사람들에게 적합합니다. 이 툴을 사용하면 이미지를 빠르고 정확하게 분석할 수 있으며, 품질 관리 (Quality Control) 및 개선 지원을 위해 결과를 비교할 수 있습니다. 또한 통합 소프트웨어 제품군과 연계된 자동/가이드 검사/측정 (automated/guided inspection/measuring) 기능을 통해 분석/검사에 이상적인 툴이 됩니다.