판매용 중고 LEICA / VISTEC INS 3300 #9242162

LEICA/VISTEC INS 3300은 평면 패널 디스플레이, 반도체 웨이퍼, 포토 마스크 및 기타 유사한 기판의 표면 결함을 식별하고 분석하기 위해 설계된 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 강력한 이미징 광학 (Imaging Optics) 및 자동화된 결함 감지 알고리즘을 사용하여 하부 미크론 수준까지 결함의 정확하고 정확한 감지, 분류 및 정량화를 제공합니다. 이 장치는 실험실 기술자들의 효율적이고 편안한 운영을 가능하게 하는 인체 공학 디자인 (ergonomic design) 을 특징으로합니다. 첨단 광학 머신은 전송 (transmission) 과 반사 (reflected) 광 모두를 통해 고해상도 기판의 인라인 이미지를 생성 할 수 있습니다. 단일 (single-axis) 또는 다중 축 (multi-axis) 스캐닝을 위해 구성하여 대형 기판을 검사할 수 있습니다. 이 도구에는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스, 자동 기능 정렬, 자동 결함 감지 (automated defect detection) 및 업계 표준 결함 지표에 따른 결과에 대한 실시간 분석을 제공하는 강력한 펌웨어 패키지도 포함되어 있습니다. LEICA INS 3300에는 다양한 정확하고, 반복 가능하며, 신뢰할 수있는 이미징, 정렬 및 분석 매개변수가 있습니다. 이러한 매개 변수에는 조명 선택, 노출 타이밍, 이미지 임계값, 결함 크기 한계, 평균 대비, 확장 범위, 입자 크기 한계, 배경 빼기, 입자 포함 매개 변수 및 별점 검색이 포함됩니다. 자산의 다중 모드 기능 세트 (multi-mode feature set) 는 산업 응용 프로그램과 실험실 사용에 모두 적합합니다. 모델의 결함 특성화 결과는 절대 값과 "완벽한 (perfect)" 표본과 관련하여 측정 또는 추정 값으로보고될 수 있습니다. 제조 공정 (Manufacturing Process) 으로 인해 크기와 모양이 변화하는 특징이 있는 표본을 검사하는 데 적합한 장비입니다. 또한, 이 시스템은 다양한 출력 형식 (output format) 을 제공하며, 다른 시스템에서 사용하는 데이터 형식과 호환되며, 다른 장치 구성 요소와의 손쉬운 통합을 지원합니다. 이를 통해 종합적인 보고서를 생성하고 각기 다른 기판 간에 정확한 비교 측정 (comparison measurement) 을 만들 수 있습니다. 결론적으로, VISTEC INS 3300은 자동 결함 감지, 분류 및 정량화에 필요한 정확성과 정확성을 제공하는 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 기계입니다. 이 툴은 종합적인 출력 기능, 사용자 친화적 운영, 그리고 업계 표준 결함 지표와 호환되는 결과를 제공합니다. 산업 응용 및 실험실 사용에 이상적인 도구입니다.