판매용 중고 LEICA / VISTEC INS 2000 #9308872

LEICA/VISTEC INS 2000은 반도체 산업을 위해 특별히 설계된 정밀 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 제품은 고해상도 이미징 (high-resolution imaging), 자동 결함 검사 (automated defect inspection) 와 같은 고급 기능을 제공하여 반도체 장치 생산에서 최고의 품질 표준을 보장합니다. 라이카 인스 2000 (LEICA INS 2000) 은 강력한 광학 및 이미지 처리 기술을 활용하여 마스크와 웨이퍼의 결함 및 결함을 감지하고 측정하는 완전 자동화 시스템입니다. 이 장치는 고해상도 이미징 및 고급 이미지 분석 (Advanced Image analysis) 기능을 제공하여 마스크와 웨이퍼 모두에서 작은 결함 및 오염 물질을 감지 할 수 있습니다. 또한, 이 기계는 자동화된 결함 검사 기능을 제공합니다. 이 검사 기능은 프로세스/사용자의 특정 요구 사항을 충족하도록 사용자 정의할 수 있습니다. VISTEC INS 2000은 전체 필드와 대상 마스크 및 웨이퍼 검사를 모두 수행하도록 구성할 수 있습니다. 전체 필드 검사 (full-field inspection) 를 통해 공구는 전체 필드를 한 번에 스캔하고 가장 작은 결함까지도 감지할 수 있습니다. 대상 검사의 경우, 마스크와 웨이퍼 (wafer) 의 선택된 영역이나 영역만 검사하도록 에셋을 구성할 수 있습니다. 검사 기능 외에도 INS 2000은 결함 검토 및 SPC (Statistical Process Control) 기능과 같은 고급 기능을 제공합니다. 결함 검토 (Defect Review) 를 통해, 사용자는 상세 수준의 결함을 조사, 분석할 수 있으며, 이를 통해 운영 프로세스에 대한 정보를 얻을 수 있습니다. SPC 기능을 사용하면 프로세스 성능을 모니터링하고 잠재적인 문제 또는 결함을 감지할 수 있습니다. LEICA/VISTEC INS 2000은 반도체 장치의 품질과 안정성을 보장하는 탁월한 도구입니다. 고급 광/이미지 처리 (Optical/Image Processing) 기능을 제공하여 가장 작은 결함까지도 감지할 수 있으며, 어떠한 품질 문제나 오염 물질도 감지되지 않도록 합니다. 자동화된 결함 검사 (Automated Defect Inspection) 기능을 통해 사용자는 디바이스 생산에서 가장 높은 품질 (Quality) 표준을 충족하고 있다고 확신 할 수 있습니다.