판매용 중고 LEICA INS 3300 #293656277

LEICA INS 3300
ID: 293656277
Wafer inspection system.
라이카 인스 3300 (LEICA INS 3300) 은 최첨단 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사 장비로, 업계에서 가장 포괄적이고 비용 효율적인 솔루션을 제공하여 최고의 제품 품질 및 수율을 보장합니다. 이 최첨단 시스템은 강력한 기능과 기능으로 실험실 (laboratory) 또는 청소실 (cleanroom) 환경에서 제조된 웨이퍼를 검사할 수 있습니다. 이 장치에는 고해상도 카메라가 장착되어 있으며, 최대 해상도는 8 메가 픽셀, 시야는 최대 25mm 입니다. 이를 통해 현미경은 정확도가 높고, 빠르고, 효율적으로 작은 결함과 불규칙성을 감지 할 수 있습니다. 또한, 대규모 뷰 (field of view) 를 통해 더 높은 수준의 자동화를 수행할 수 있으므로 수동 검사의 필요성이 줄어듭니다. 이 기계는 카메라 이외에도 고강도 LED 스트로브 (LED strobe) 와 같은 다양한 기능을 제공하는데, 이는 샘플을 비추고 표면의 작은 결함, 스테레오 현미경 (stereo microscope), 대형 필드 검사 가능, 인라인 결함 맵 측정. LEICA INS3300 은 기능면에서 자동, 반자동, 수동 마스크 및 웨이퍼 검사를 수행할 수 있습니다. 평평한 웨이퍼 (flat wafer) 와 원형 및 계단 웨이퍼 (steped wafer) 를 다양한 직경으로 검사 할 수 있습니다. 이 도구는 또한 입자, 긁힘, 칩, 범프와 같은 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한 INS 3300 은 매우 다양하며, 사용자가 구성할 수 있는 다양한 설정과 사용자 지정 (custom) 처리 시스템에 통합할 수 있습니다. 또한, 직관적인 인터페이스를 통해 빠른 설치 시간을, 강력한 소프트웨어를 통해 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 전반적으로, INS3300 은 강력하고 신뢰할 수 있는 마스크, 웨이퍼 (wafer) 검사 자산으로, 최고의 품질 및 수율을 제공하도록 설계되었습니다. 탁월한 성능, 고급 기능, 비용 효율성 등으로 인해 Wafer 프로세싱 요구 사항을 선택할 수 있습니다.
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