판매용 중고 LEICA INS 3000 #9200394

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ID: 9200394
Wafer defect inspection system.
LEICA INS 3000은 최첨단 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 업계 최고의 해상도와 확대/축소 (확대) 기능을 갖추고 있으며 가장 까다로운 검사 어플리케이션에 적합합니다. 이 시스템은 고정밀 광학 장치와 고성능 이미징 기계를 결합합니다. 이 조합으로 인해 LEICA INS-3000은 집적 회로 및 기타 부품의 작은 결함을 감지하는 데 이상적입니다. 이 도구는 동력 반구 거울 (motorized hemisphere mirror) 을 갖춘 독특하고 컴팩트한 광학 설계를 갖추고 있으며, 전체 검사 지역에 걸쳐 깨끗하고 균일 한 적층을 보장합니다. 이 자산의 감지 정확도는 0.5um (반도체 마스크 및 웨이퍼 검사) 에 이상적입니다. 또한 INS 3000에는 최대 4K 해상도 이미지를 캡처 할 수있는 고급 CCD 카메라가 있습니다. 이러한 고해상도 이미지는 사용자가 생산 문제로 이어질 수있는 분 (minute), 심지어 서브 미크론 (sub-micron) 결함 또는 입자를 명확하게 식별하는 데 도움이됩니다. INS-3000은 빠르고 자세한 검사 기능을 모두 갖춘 다단계 검사 모델을 갖추고 있습니다. 이 장비는 모든 픽셀을 검사하고 웨이퍼 (wafer) 나 마스크 (mask) 에 불순종을 감지합니다. 또한 이 시스템에는 색상 (color) 레벨을 조정하고 자동으로 대조 (contrast) 하여 정확한 결과를 얻을 수 있는 소프트웨어가 제공됩니다. 라이카 인스 3000 (LEICA INS 3000) 은 많은 양의 데이터를 빠르고 쉽게 처리 할 수 있으며, 세련된 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 사용자가 쉽게 장치를 제어하고 검사 데이터를 해석할 수 있습니다. 이 기계에는 종합적인 보고 (Reporting) 및 분석 (Analysis) 기능도 포함되어 있으며, 사용자는 이 기능을 사용하여 상세한 검사 보고서를 생성할 수 있습니다. 이 도구는 또한 신뢰성이 높고, 사실상 유지 보수가 불가능하여 대량 생산에 이상적인 선택입니다. LEICA INS-3000은 강력하고 안정적인 마스크 및 웨이퍼 검사 자산으로, 탁월한 정확성과 효율성을 제공합니다. 작동이 쉽고, 신뢰성이 높으며, 뛰어난 해상도를 제공합니다. 이 모델은 검사 과정의 품질과 정확성을 보장하고자 하는 반도체 (semiconductor) 제조업체에 이상적인 선택이다.
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