판매용 중고 KRAUTKRAMER USK-7B #293667707

KRAUTKRAMER USK-7B는 200mm-450mm 직경 웨이퍼 및 마스크의 생산 테스트를 위해 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 고해상도 이미징 시스템 (High Resolution Imaging System) 과 고속 이미지 처리 장치 (High Speed Image Processing Unit) 를 활용하여 마스크 및 웨이퍼 표면에 발견된 결함 및 불규칙성에 대한 안정적인 테스트 결과를 제공합니다. USK-7B 시스템의 시야는 710 x 710mm이고 최대 이미지 해상도는 1024 x 1024 픽셀입니다. 와퍼 (wafer) 및 마스크 (mask) 표면의 미세 결함과 거친 결함을 모두 캡처할 수있는 조절 가능한 노출 시간을 가진 고감도 4 세대 CCD 이미지 센서가 특징입니다. 이미지 처리 도구는 고속 디지털 신호 프로세서 (DSP) (High-speed Digital Signal Processor, DSP) 를 사용하여 촬영 한 이미지를 참조 이미지와 비교하고 마스크 및 웨이프의 표면에서 불규칙성 또는 결함을 감지합니다. KRAUTKRAMER USK-7B (KRAUTKRAMER USK-7B) 에는 밝은 LED 링 조명기가 장착되어 있으며, 마스크 및 웨이퍼 표면에 균일 한 조명을 제공하여 마스크와 웨이퍼를 명확하고 정확하게 검사 할 수 있습니다. 큰 객관식 렌즈를 포함하는 강력한 광학 자산 (optical asset) 은 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 표면의 미세 결함, 끈적끈적한 결함 등 다양한 종류의 결함을 이미징할 수 있습니다. 이 모델의 정교한 패턴 인식 (pattern recognition) 기술을 통해 결함 분배를 분석하여 잠재적 프로세스 문제를 확인할 수 있습니다. USK-7B는 또한 선택적인 두꺼운 필름 (Thick Film) 측정 장치를 특징으로하며, 웨이퍼 및 마스크 (10 미크론 이상의 두꺼운 필름) 에서 두꺼운 필름의 높이를 측정 할 수 있습니다. 이를 통해 볼륨 제작 전 리소그래피 프로세스의 잠재적 문제를 파악할 수 있습니다. KRAUTKRAMER USK-7B는 고감도 이미징 및 처리 기능 외에도 사용자 친화적 인 인터페이스도 포함되어 있어 작업 및 제어가 용이합니다. 생성된 보고서는 다양한 형식으로 익스포트할 수 있으며, 과거 참조용으로 저장되므로 USK-7B (USK-7B) 는 반도체 생산에서 품질 관리에 이상적인 도구입니다.