판매용 중고 KLA / TENCOR STARlight SL3 Series #9101332
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판매
ID: 9101332
Lot of PCB's:
(1) P/N: 710-060329-00
(1) P/N: 710-034287-00
(1) P/N: 710-032926-00
(1) P/N: 710-057895-00
(1) P/N: 710-034282-00
(3) P/N: 710-034292-00
(1) P/N: 710-034302-00
(1) P/N: 710-060031-00
(1) P/N: 710-060914-00
(1) P/N: 700-032926-00
(3) P/N: 710-058894-00
(1) P/N: 710-057306-00
(1) P/N: 710-057306-00
(1) P/N: 710-058063-00
(2) P/N: 710-058894-002
(1) P/N: 710-058895-003
(6) P/N: 710-060914-00.
KLA/TENCOR STARlight SL3 시리즈는 반도체 제조 산업의 마스크와 웨이퍼 모두에 대한 심층적 분석을 제공하기 위해 설계된 최첨단 검사 장비입니다. 이 시스템은 고급 이미징 기술 (Advanced Imaging Technology) 을 활용하여 높은 수준의 정확도와 해상도로 제품의 모든 계층을 검사합니다. KLA STARlight SL3 시리즈는 SL3000, SL3200 및 SL3100의 세 가지 모델로 구성됩니다. 각 모델마다, 다양한 고객의 요구를 충족할 수 있도록 설계된 고유한 기능이 있습니다. SL3000 은 높은 처리량 자동 웨이퍼 검사 장치 (Automated Wafer Inspection Unit) 와 대용량 Wafer Inspector 를 장착하여 마스크와 웨이퍼 모두에서 결함을 감지합니다. SL3200 시리즈는 웨이퍼 검사 머신 (wafer inspection machine) 으로, 넓은 영역 웨이퍼를 검사하고 뛰어난 해상도와 정확도를 제공하도록 특별히 설계되었습니다. SL3100 모델은 전체 웨이퍼 디포커스 (defocus) 기능과 마스크 및 웨이퍼를 검사하는 고해상도 센서를 제공합니다. TENCOR STARlight SL3 시리즈는 표면 결함 검사, 결함 격리, CD 및 필름 측정, 오버레이 도량형, 리소그래피 패턴 평가, 다이 투 다이 결함 감지 등 다양한 검사 기능을 제공합니다. 각 기능은 고객에게 제품 품질 (Quality of Product) 을 포괄적으로 파악할 수 있도록 설계되었습니다. 이 도구에는 또한 웨이퍼 (wafer) 의 입자 오염 물질을 감지하고 분리하는 입자 검사 기능이 포함되어 있습니다. 또한 STARlight SL3 시리즈는 우수한 제품 검사 기능 외에도 결함 검토 모듈, 자동 결함 리매퍼 (automatic defect remapper), 중요 치수 분석 도구, 결함 클러스터링 도구, 결함 분석 도구 등 다양한 고급 소프트웨어 기능을 제공합니다. 이러한 소프트웨어 기능은 전체 검사 프로세스의 워크플로우 (workflow) 를 최적화하고, 고객이 신속하게 결함을 감지하고 프로세스 제어를 향상시킬 수 있도록 합니다. KLA/TENCOR STARlight SL3 시리즈는 고성능 이미징 기술과 정교한 소프트웨어 도구를 모두 제공합니다. 이 두 가지 기능을 통해 고객은 제품 품질 (Quality) 을 포괄적으로 파악할 수 있습니다. 이 자산은 운영 고객 및 R&D 고객을 위해 설계되었으며, 품질 향상 (Quality) 과 주기 단축 (Cycle Time) 에 필요한 솔루션을 제공합니다. KLA STARlight SL3 시리즈의 고급 이미징 기술과 소프트웨어 (software) 를 활용하여, 고객은 자사의 제품이 최고의 품질 및 일관성 표준을 충족하도록 보장할 수 있습니다.
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