판매용 중고 KLA / TENCOR SP1 #293805337

KLA/TENCOR SP1은 품질 관리 및 생산 프로세스를 돕기 위해 설계된 자동 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 반도체 업계에서 사용되는 고속 이미징 (High Speed Imaging) 과 웨이퍼 (Wafer) 및 마스크를 검사합니다. 검사 장치는 고해상도 컬러 카메라, 레이저 스캐닝 (laser scanning) 및 고급 컴퓨터 비전 (computer vision) 알고리즘을 사용하여 마스크와 웨이퍼 모두에서 결함 및 이상을 감지합니다. KLA SP1 머신은 모듈식 아키텍처 (modular architecture) 로 설계되어 다양한 제조 공정의 요구를 충족시키기 위해 쉽게 확장 가능합니다. TENCOR SP 1에는 두 가지 주요 구성 요소 (스캐너 모듈과 검사 모듈) 가 있습니다. 스캐너 모듈은 웨이퍼와 마스크의 이미지를 캡처하는 데 사용되며, 검사 모듈은 레이저 스캐닝 (laser-scanning) 과 컴퓨터 비전 (computer vision) 알고리즘의 조합을 사용하여 결함을 식별합니다. 이 도구는 시간당 최대 120 개의 웨이퍼에서 샘플을 고속 스캔할 수 있습니다. SP1 자산은 가장자리 결함, 입자 오염 및 포토컨덕터 결함을 포함한 다양한 유형의 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한 스크래치, 피트, 범프와 같은 다양한 표면 결함을 식별 할 수 있습니다. 또한, 모델은 다양한 유형의 광학 결함 (예: 스팟, 선, 커브) 과 전체 이미지 관련 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한 SP 1 은 결함 감지 외에도 다양한 기능을 제공하여 운영 품질 관리 (예: 데이터 로깅 자동화, 결함 분류, 정렬, 결과의 온라인 보고 등) 를 지원합니다. KLA/TENCOR SP 1은 또한 직관적인 사용자 인터페이스를 포함하며 다양한 산업 표준 데이터 형식과 호환됩니다. KLA SP 1 장비는 업계 최고의 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템으로, 손쉬운 확장성과 안정적인 성능을 제공합니다. 이 장치의 모듈식 아키텍처 (modular architecture) 는 다양한 생산 요구에 적합하며, 고해상도 이미징 (imaging) 과 고급 결함 감지 (defect-detection) 알고리즘은 반도체 업계의 품질 제어에 적합한 선택입니다. TENCOR SP1 머신을 사용하면 제조업체는 자사 제품이 최고의 표준을 충족할 것이라고 확신할 수 있습니다.