판매용 중고 KLA / TENCOR SP1-TBI #9261864

KLA/TENCOR SP1-TBI는 최첨단 자동 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 집적 회로 및 기타 반도체 부품을 빠르고 정확하게 검사 할 수 있습니다. 이 검사 시스템은 오늘날 까다로운 제작 공정 (fabrication process) 의 정확한 요구를 충족시키기 위해 구축되었으며, 이 검사 시스템은 생산량 (production floor) 에서 실험실 (laboratory) 까지 최고 수준의 품질과 신뢰성을 보장합니다. 이 장치의 독점 이미징 (Proprietary Imaging) 및 분석 기술 (Analysis Technologies) 을 통해 시중의 다른 동급 시스템보다 더 정확한 세부 탐지와 빠른 결과를 얻을 수 있으므로 다양한 구성요소를 빠르고 정확하게 검사할 수 있습니다. KLA SP1T-BI의 광학 설계는 특수 방사선 사진 및 LED 소스와 함께 사용하도록 최적화되어 있어, 가장 상세한 이미징 및 분석을 가능하게 합니다. 강력하고 정확한 이미징 툴로, 자산은 탁월한 성능과 안정성을 제공합니다. TENCOR SP1 TBI (Automated Process Control Model) 는 자동화된 프로세스 제어 모델을 사용하여 수작업 없이 각 테스트가 정확하고 안정적으로 실행되도록 합니다. 이 장비의 특허 출원 중 웨이퍼 매거진 교환 가능 시스템을 사용하면 카세트룩 웨이퍼 (cassette-look wafer) 를 쉽게 다시 로드할 수 있으며, 불필요한 단계를 제거하고 빠르고 철저한 검사 프로세스를 수행할 수 있습니다. 이 장치의 전체 기능 결함 분석 (Defect Analysis) 패키지를 사용하면 검사 중에 발견된 결함을 빠르고 정확하게 진단할 수 있으며, 수율 향상 및 비용 절감을 위한 수정 조치를 제공합니다. 또한 종합적인 이미지 편집 도구를 통해 이미지를 쉽게 보고, 분석하고, 저장할 수 있으며, 따라서 사용자가 신속하게 문제를 검사하고 수정할 수 있습니다. 기계의 TIBM (Temperature-Insensitive Beam Motion) 은 캡처된 각 이미지가 거친 제조 환경에서도 최고 품질을 보장합니다. 공구의 축 보상 (axis compensation) 기능은 대기 이벤트를 보완하여 항상 정확한 이미징 정확성을 보장합니다. KLA SP1 TBI는 매우 강력하고 신뢰할 수있는 자산으로, 세계에서 가장 까다로운 마스크, 웨이퍼 검사 프로세스의 과제에 부응하도록 설계되었습니다. 고급 옵티컬 디자인, 독점 이미지/분석 기술, 자동 프로세스 제어 (Automatic Process Control) 기능은 사용자가 매번 빠르고 정확하며 안정적인 결과를 얻을 수 있음을 의미합니다.