판매용 중고 KLA / TENCOR SP1-TBI #293678701

KLA/TENCOR SP1-TBI는 대용량 생산을 위해 설계된 정확하고 안정적인 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 생산성이 높고 비용이 저렴하며 처리량이 매우 빠릅니다. 이 시스템은 RTI ARIS (Advanced Reticle Inspection Unit), WIS (Wafer Inspection Machine) 및 IAS (Image Analysis Tool) 로 구성됩니다. 아리스 (ARIS) 는 레티클의 심각한 결함을 감지, 분석, 식별하는 마스크를 완전히 보여줍니다. 다파장 조명 (multi-wavength illumination) 자산을 사용하여 잠재적 결함이 누락되지 않도록 합니다. 이 모델은 또한 밝은 필드, 어두운 필드 및 기타 이미징 기술을 사용하여 다양한 결함 유형을 감지합니다. WIS는 와퍼에서 모든 다이를 자동으로 검사하는 인라인 (in-line) 자동 결함 검사 장비를 제공합니다. 자동 정렬 기능을 통해 다이 레벨 (die-level) 결함 데이터를 IAS 에서 액세스할 수 있는 데이터베이스에 배치합니다. IAS 는 수집된 데이터를 분석하여 잠재적인 수율 제한 결함을 신속하게 파악합니다. IAS는 또한 수익률 및 품질 평가를 수행 할 수 있습니다. KLA SP1T-BI 시스템은 작동 및 유연성을 위해 설계되었습니다. 이 제품은 실시간 성능을 제공하며, 사용자에게 다양한 프로세스 모니터링 기능을 제공합니다. 또한 포괄적인 테스트 패턴 라이브러리, 패턴 및 통계 분석 기능이 있습니다. 또한, 이 장치는 확장 가능하도록 설계되었으며, 필요에 따라 시스템 구성을 구축하고 사용자 정의할 수 있습니다. TENCOR SP1 TBI 도구는 비용 효율적인 솔루션입니다. TCO (총소유비용) 가 낮고, 빠른 주기 시간으로 높은 생산성과 비용 절감 효과를 제공합니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 포괄적인 결함 적용 범위를 통해 손쉽게 결함을 검색, 분석, 수정할 수 있습니다. 이 자산은 또한 수율 (Yield) 및 품질 지표 (Quality Metrics) 의 효율적인 통합을 위한 플랫폼을 제공하여 효과적인 운영 최적화를 위한 강력한 통찰력을 제공합니다. 간단히 말해, SP1T-BI는 높은 생산성, 저렴한 가격, 빠른 처리량, 자동 마스크 및 웨이퍼 검사 모델입니다. 이 제품은 포괄적인 기능과 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 및 프로세스 모니터링 (process monitoring) 을 통해 심각한 결함을 감지, 분석, 파악할 수 있도록 설계되었습니다. 이 장비는 수익률 (Yield) 및 품질 기준 (Quality Metrics) 의 효율적인 통합과 함께 실시간 성능을 통해 많은 업계에 비용 효율적인 솔루션이 됩니다.