판매용 중고 KLA / TENCOR SP1-TBI SURFSCAN #9117563

KLA/TENCOR SP1-TBI SURFSCAN은 매우 높은 수율과 결함이없는 생산이 달성되도록 설계된 정교한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 마스크 및 웨이퍼 검사 프로세스 (Wafer Inspection Process) 동안 효율성과 정확성을 극대화할 수 있는 다양한 고급 기능을 제공합니다. IT (Advanced Imaging Technology) 알고리즘을 사용하여 최대 10 nm 크기의 결함을 신속하게 감지할 수 있습니다. 이 시스템은 강력한 데이터 통합 기능을 활용하여 고속 이미지 분석, 신속한 자동 결함 수정 (Far-Correction) 기능을 제공합니다. 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 운영자는 쉽게 설정을 조정하고, 검사를 실행하며, 결과를 빠르고, 효과적으로 검토할 수 있습니다. 고급 색상 매핑 (Color Mapping) 기능은 결함 인식 작업의 속도를 높여주는 데 도움이 되며, 결함 데이터를 보다 빠르게 처리할 수 있는 고유한 OIA (Optimized Image Analysis) 기술이 적용되어 마스크 및 웨이퍼 검사 프로세스를 신속하게 수행할 수 있습니다. 결과의 정확성을 더욱 향상시키기 위해 장치는 EMA (Error Magnification Analysis) 기술을 통합하여 가장 작은 결함을 효과적으로 식별 할 수 있습니다. 또한, 이 시스템은 클라이 (KLA) 사내 가상 QC 이미지 분석 소프트웨어와 같은 소프트웨어와 완벽하게 호환되도록 설계되어 있어 두 시스템 간에 빠르고 효율적인 데이터 전송이 가능합니다. 소프트웨어 기반 결함 식별 알고리즘인 IPC (Image Pattern Clustering) 와 같은 다른 기능은 이미지 데이터를 상호 참조할 때 작동이 효율적이고 정확한지 확인합니다. 전반적으로 KLA SP1-TBI SURFSCAN 마스크 및 웨이퍼 검사 도구는 자동 검사, 분석 및 결함 수정의 인상적인 조합을 제공합니다. 첨단 IT 알고리즘을 사용하면 매우 작은 결함을 감지할 수 있으며, 직관적인 GUI 및 데이터 통합 기능을 통해 작업을 빠르고 정확하게 수행할 수 있습니다. 마스크 (mask) 와 웨이퍼 (wafer) 검사의 정확성을 높여 주는 동시에 생산량을 극대화하고 결함 없는 (defect-free) 생산을 보장하도록 설계된 고도로 유능한 자산입니다.