판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX INS 3300 #9235814

KLA/TENCOR/PROMETRIX INS 3300은 자동 빔 디플렉션 스캐닝 메커니즘을 사용하여 반도체 장치의 목표에서 결함 및 오염 물질을 찾는 완전 통합 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 마스크 및 웨이퍼의 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 을 통해 검사되고 있으며, 정확하고 안정적인 분석을 보장합니다. 이 장치는 불량 장치 (defect-riden device) 가 고객에게 도달하기 오래 전에 감지하고 거부하여 불필요한 비용과 폐기물을 제거하도록 설계되었습니다. KLA INS 3300은 광범위한 반도체 제조, 설계 및 고장 분석 프로세스에 적합합니다. TENCOR INS 3300은 웨이퍼 또는 마스크 표면을 광학적으로 스캔하여 이미지를 확대하여 결함과 오염 물질을 드러내는 독특한 '캔틸레버 (Cantilever)' 디자인을 사용합니다. 스캐닝 정확도는 타의 추종을 불허하며 스캔 속도는 초당 20 나노 미터를 초과합니다. 이는 검사 프로세스에 필요한 최고의 정확성과 신뢰성을 제공합니다. 기계 내 "센서 '는 두 상태 의 차이 를 측정 할 수 있으며, 따라서 관리자 가" 웨이퍼' 나 "마스크 '에서 이상 을 더욱 정확 하게 탐지 할 수 있다. 또한 PROMETRIX INS 3300은 고급 독점 알고리즘을 사용하여 4 초 이내에 잠재적 결함 및 오염 물질을 감지합니다. 이는 결함, 오염 물질 탐지의 최고 수준의 정확성을 보장하며, 검사관이 작업을 완료하는 데 걸리는 시간을 대폭 단축합니다. 또한, 추가 알고리즘을 사용하여 장치 서피스의 패턴과 모양을 분할, 비교, 분류합니다. 전반적으로, INS 3300은 시장에서 가장 발전된 마스크 및 웨이퍼 검사 도구를 찾는 모든 반도체 제조업체에 적합한 선택입니다. 혁신적인 디자인, 신뢰할 수 있는 정확성, 탁월한 성능으로 인하여 검사 프로세스의 정확성과 속도를 위해 노력하는 기업을 위한 최고의 선택 (Premier Choice) 이 되었습니다.