판매용 중고 KLA / TENCOR Candela CS20 #9262810

KLA/TENCOR Candela CS20은 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 최신 KLA 소프트웨어와 하드웨어의 강점을 결합하여 과학 기반 정확성, 정확성, 신뢰성을 제공합니다. 이 장치에는 높은 처리량, 높은 처리량, 짧은 파장 CCD 카메라가 통합되어 자동화된 사용이 간편한 시스템 하나로 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 의 모든 기능을 캡처합니다. 또한 CS20 은 업계 최고의 자동화된 결함 분류 툴을 통해 실시간으로 결과를 얻을 수 있습니다. KLA CANDELA CS-20은 업계 최고의 스캔 및 검사 자산으로, 나노 미터 규모 구조의 검사 및 도량형을 가능하게합니다. 여기에는 처리량이 높은 CCD 카메라, ADC (Automated Defect Classification) 모델, 고해상도 현미경, 사전/사후 스캔 도구 및 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가 포함됩니다. 이 장비는 웨이퍼 (wafer), 마스크 검사 (mask inspection) 및 분석 (analysis) 을 위한 완벽한 솔루션을 제공하며 간단한 작업부터 복잡한 작업까지 처리할 수 있습니다. TENCOR CANDELA CS 20의 CCD 카메라는 단파장 적외선 및 가시 이미징 기술을 사용하여 지표면 및 표면 레이어의 결함을 정확하게 식별, 측정 및 분류합니다. 카메라가 해상도 (resolution level) 를 판별할 수 있기 때문에, 사용자는 피쳐의 척도에 관계없이 정확성을 보장합니다. 이 시스템은 또한 실시간으로 결함을 즉시 감지하고 분류하는 ADC (Automated Defect Classification) 장치를 갖추고 있습니다. 모든 결과 및 검사 매개변수는 비휘발성 (non-volatile) 메모리 위치에 자동으로 저장되며, 몇 번의 클릭으로 요약 (summary) 보고서를 신속하게 생성할 수 있습니다. CANDELA CS-20에는 1 미크론 보다 작은 기능을 검사하는 고급 현미경도 내장되어 있습니다. 이 기계는 고급 조명 (Advanced Lighting) 과 광학 (Optic) 을 사용하여 피쳐의 고급 시각화를 정확하게 초점을 맞추고 제공합니다. 이 도구에는 다양한 업그레이드 (옵션) 가 제공되며, 지터를 프로파일링하고, 입자 특성을 제공하고, 배경 방사선을 확인합니다. 이 자산은 다양한 크기와 구성에서 다양한 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 를 검사할 수 있습니다. KLA/TENCOR CANDELA CS 20에는 직관적인 GUI 및 사전/사후 스캔 도구가 포함되어 있어 사람의 눈에 대한 이미지 분석 및 결함 분류가 쉽습니다. 이 모델에서 생성한 결과는 독자적이고 플랫폼 간 친화적 (cross-platform-friendly) 형식으로, 다른 프로그램으로 익스포트하여 추가로 사용할 수 있습니다. 또한 GUI 는 마스크 패턴 확인 및 정렬을 위한 3D 특성 소프트웨어와 통합되어 중요한 프로세스 제어 데이터를 손쉽게 액세스할 수 있습니다. 전반적으로, Candela CS20은 업계 최고의 마스크, 웨이퍼 검사 및 도량형 장비로, 덜 고급 시스템에 비해 결정적인 이점을 제공합니다. CS20의 속도, 정확도, 다용도 (versitility) 를 결합하면 고품질의 결과를 빠르고 효율적으로 제공할 수 있으며, 광범위한 기능을 통해 연구/산업 분야에 이상적으로 활용할 수 있습니다.