판매용 중고 KLA / TENCOR Archer AIM #9104741

KLA/TENCOR Archer AIM (KLA/Tencor Archer AIM) 은 혁신적인 마스크 및 웨이퍼 검사 솔루션으로, 고급 기술과 사용하기 쉬운 인터페이스를 결합하여 안정적이고 정확한 분석을 제공합니다. 이 시스템은 집적 회로 생산에 필수적인 마스크 (mask) 를 평가해야 하는 IC 제조업체에 적합합니다. 이 플랫폼은 마스크 (Mask) 나 웨이퍼 (Wafer) 의 표면에 상세한 구조를 캡처하는 매우 정확한 광학 이미징 기술을 갖추고 있습니다. 즉, 최신 알고리즘을 활용하여 더욱 신속하고 안정적인 조사를 수행할 수 있으므로 시간 (시간) 없이 사용자가 상세한 분석 결과를 액세스할 수 있습니다. KLA Archer AIM (Archer AIM) 은 신속하게 구성하고 설정할 수 있는 플러그 앤 플레이 (Plug-and-Play) 구성 요소로 설계되었으므로 설치도 간단합니다. TENCOR Archer AIM (TENCOR Archer AIM) 을 사용하면 안정적이고 정확한 방식으로 다양한 특성을 측정하면서 작고 복잡한 구조를 검사 할 수 있습니다. 이 플랫폼은 광범위한 HD 이미지를 제공할 수 있으며, 이 제품의 표면 특성 (surface properties) 에 대한 정확한 설명을 제공합니다. 나노 레벨에서 결함을 감지하고, 임계 치수 (CD) 레이어를 평가하고, 수축과 오버레이를 계산할 수 있습니다. Archer AIM (Archer AIM) 은 혁신적인 자동화 및 데이터 수집 툴을 통해 시간 효율적인 방식으로 정확성을 분석하는, 소비자를 위한 빠르고 효율적인 워크플로를 제공합니다. 또한 웨이퍼 맵 재구성 도구 (wafer map reconstruction tool) 를 사용하여 웨이퍼 기판의 모든 레이어에서 프로세스 결함을 쉽게 볼 수 있습니다. 또한, 플랫폼은 서명 결함을 신속하게 찾고 식별 할 수 있습니다. KLA/TENCOR Archer AIM은 (는) 기존 도구 세트와 쉽게 통합되어 반복 가능한 프로세스 제어를 위한 최적화된 솔루션을 제공합니다. 고급 분석 (Advanced Analytics), 패턴 인식 (Pattern Recognition) 등 다양한 기능을 제어하도록 시스템을 구성할 수도 있습니다. KLA Archer AIM (Archer AIM) 을 포괄적인 스토리지 솔루션과 통합하면 데이터를 자동으로 저장하고 액세스하여 추적 능력을 향상시킬 수 있습니다. 전반적으로 TENCOR Archer AIM은 강력하고, 안정적이며, 신뢰할 수 있는 마스크 및 웨이퍼 검사 솔루션으로 IC 생산 프로세스의 정확성과 정확성을 보장합니다. 간편하고 사용이 간편한 인터페이스, 리치 (Rich) 데이터 세트, 최적화된 소프트웨어 등의 기능을 통해 모든 최신 IC 제조업체를 위한 유용한 툴이 될 수 있습니다.