판매용 중고 KLA / TENCOR Archer 200 #293814730

KLA/TENCOR Archer 200 Mask & Wafer Inspection Equipment는 현대 집적 회로에 사용되는 마이크로 전자 칩의 결함 및 패턴을 감지, 측정 및 검사하기위한 고급 솔루션입니다. 이 시스템에는 마스크 (Mask) 및 웨이퍼 (Wafer) 검사를 위한 자동 검사 도구가 포함되어 있어 업계 최고의 자동 기능을 제공합니다. 이 장치에는 고급 패턴 매칭 및 결함 감지 알고리즘이 장착 된 풀 필드 비전 머신 (full-field vision machine) 이 포함되어 있습니다. 이 도구에는 또한 고감도 및 이미지 대비를 가진 저수준 도량형을위한 PMT (photomultiplier tube) 센서가 포함되어 있습니다. KLA Archer 200 자산은 3D 웨이퍼 검사 및 3D 마스크 테스트와 같은 다양한 기능을 갖춘 자동 시각 검사 기능을 제공합니다. 또한 결함 감지, 측정, 분류 등의 소프트웨어 기능이 내장되어 있습니다. 이 모델에는 향상된 사용자 인터페이스 (user interface) 가 있어 결함 이미지를 빠르고 쉽게 모니터링하고 표시할 수 있습니다. 이 장비는 또한 조절 가능한 감도로 효율적인 표면 이미징 (surface imaging) 을 자랑하여 결함 감지 및 측정에서 뛰어난 정확성을 제공합니다. 또한 TENCOR Archer 200 Mask & Wafer Inspection System에는 동일한 웨이퍼의 여러 이미지를 결합하는 웨이퍼 스티처가 있습니다. 따라서 결함이 발생할 확률을 최소화하고 재작업 (rework) 및 장치 다운타임을 줄일 수 있습니다. 이 기계는 또한 상단/하단 검사 및 풀 필드 표면 이미징 (full-field surface imaging) 과 같은 다양한 검사 모드와 호환됩니다. 이 툴은 하이엔드 컴퓨팅 시스템 (High-End Computing Systems) 에 의해 구동되며 대규모 고밀도 장치 생산용 엔드 투 엔드 (End-to-End) 솔루션을 제공하도록 사용자 정의할 수 있습니다. 즉, 제어 설정 프로세스를 간소화하고 분석 작업을 간소화하는 웹 기반 GUI (웹 기반 GUI) 를 통해 작업을 관리할 수 있습니다. 전반적으로 Archer 200 Mask & Wafer Inspection Asset은 최고의 이미지 품질 및 검사 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 이 모델은 오늘날 반도체 업계의 검사 요건에 대한 신뢰성과 비용 효율적인 솔루션입니다 (영문).