판매용 중고 KLA / TENCOR Archer 10 XT #9280138

KLA/TENCOR Archer 10 XT는 가장 까다로운 반도체 제작 요구 사항을 충족하도록 설계된 차세대 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 주요 검사 기술 제공 업체 인 KLA가 개발 한이 시스템에는 고급 패턴 인식, 3D 표면 측정, 디지털 이미지 상관 관계, 예측 분석 등 여러 가지 최상위 툴이 있습니다. KLA ARCHER10XT는 TENCOR 제품군의 초고속 정확도, 웨이퍼 및 마스크 제조, 포장 및 고장 분석을위한 고속 이미징 솔루션 시스템입니다. 속도, 정밀도, 견고성에 중점을 둔 TENCOR ARCHER 10XT는 최대 133nm 해상도의 고급 이미징 기능을 제공합니다. 이 장치의 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 트랜지스터 게이트 및 기타 기능 (웨이퍼) 과 같은 항목의 초고해상도 디지털 이미지를 제공합니다. 한 번의 스캔 (scan) 을 통해 다양한 검사 전략을 적용할 수 있습니다. 기계 는 신속 하고 효과적 으로 검사 할 수 있으며, 상세 하고 정확 한 "데이터 '를 만들어 내는데, 이" 데이터' 는 속도, 정확도, 정확도 를 뛰어넘어 결함 이나 가변성 을 식별 하는 데 도움 이 된다. KLA/TENCOR ARCHER 10XT는 고급 결함Teller ™ 3D 표면 측정으로, 탁월한 글로벌 CD (GCD) 의 표면 거칠기를 측정하는 한편, 높은 반복성과 정확도로 결함을 식별하고 매핑합니다. 이 툴의 UltraArt ™ 예측 분석 (Predictive Analytics) 및 디지털 이미지 상관 관계 분석 (Digital Image Correlation) 기능을 사용하면 디바이스의 기능을 정확하고 안정적으로 측정할 수 있습니다. 또한 추가 성능 향상 (Wafer Inspection) 을 통해 자산을 쉽게 업그레이드할 수 있습니다. KLA/TENCOR 전용 'Swap & See' 업그레이드 프로세스를 통해, 고객은 새로운 하드웨어 구성요소를 구입하지 않고도 TENCOR Archer 10 XT를 업그레이드할 수 있으므로 최대한의 가치와 총 프로세스 성능을 최적화할 수 있습니다. 클라아처 10XT (KLA ARCHER 10XT) 는 스마트폰과 같은 하부 파장 장치에서 첨단 반도체 장치용 고급 노드 프로세스 노드에 이르기까지 다양한 제조업체에 이상적인 솔루션입니다. 이 모델은 뛰어난 결함 감지 (defect detection), 비용 절감, 안정적인 제조 성능을 제공하며, 웨이퍼 및 마스크 검사의 새로운 표준을 설정합니다.