판매용 중고 KLA / TENCOR Archer 10 XT #293594751

KLA/TENCOR Archer 10 XT는 고속, 정확한 이미징 및 데이터 분석을 결합하여 몇 분 안에 실행 가능한 지능을 생성하는 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 클라이 아처 10XT (KLA ARCHER10XT) 에 통합 된 기술은 시각적 검사로 감지하기에는 너무 작거나 어려운 것을 포함하여 거의 모든 웨이퍼 결함을 감지하는 해상도와 민감도를 제공합니다. TENCOR ARCHER 10XT는 고속, 고해상도 이미징 모듈로 시작하며, 최대 20배의 배율로 대규모 시야의 고해상도 이미지를 캡처할 수 있습니다. 이 이미징 모듈은 고정밀 이미지 분석을 위해 자동화된 반도체 프로세스 제어 모듈과 결합되어 있습니다. 이 시스템에는 또한 비주얼 이펙트 (Visual Effects) 모듈이 포함되어 있으며, 왜곡되지 않은 이미지 처리 기능을 제공하여 미묘한 결함 또는 복잡한 결함을 감지할 수 있으며, 그렇지 않으면 누락되거나 잘못 표시될 수 있습니다. 텐코 아처 10 XT (TENCOR Archer 10 XT) 는 스크랩의 주요 원인이 되기 전에 잠재적 인 제조 문제를 식별하기 위해 마이크로 크랙 (micro-crack) 및 오염 물질 (contaminant) 과 같은 다양한 웨이퍼 결함을 식별, 검사 및 분석하는 강력한 도구입니다. 또한 입자, 잔류 물, 층과 같은 낮은 수준의 오염 물질을 감지하여 깨끗한 프로세스 환경을 보장할 수 있습니다. 이 장치는 소프트웨어 방식의 사용자 인터페이스 (user-interface) 를 사용하여 특정 고객 요구를 충족하기 때문에 사용이 간편하고 사용자 정의가 용이합니다. 이를 통해 사용자는 마스크 및 웨이퍼 검사기 (Wafer Inspection Machine) 를 개별 요구 사항에 맞게 사용자 정의하여 소형 반도체 (Semiconductor) 패브와 대규모 생산 설비 모두를 위한 사용자 친화적 인 도구로 만들 수 있습니다. 또한 KLA/TENCOR ARCHER10XT 는 다양한 데이터 관리/보고 툴을 제공하여, 사용자가 해당 시설에서 제조한 모든 제품에 대한 검사 데이터를 수집하고 분석할 수 있습니다. 또한 자동화된 결함 인식 (Automated Defect Recognition) 기능을 통해 각 제품을 훈련되고 검증된 분류기 (Classifier) 를 사용하여 알려진 모든 결함 영역을 검사할 수 있습니다. 아처 10 XT (Archer 10 XT) 는 경제적인 솔루션으로, 제조업체가 아날로그/디지털 제품을 신속하고 정확하게 검사할 수 있는 한편, 귀중한 제품을 폐기해야 할 필요성은 최소화해 줍니다. 고속, 고해상도 이미징 및 자동화된 프로세스 제어를 제공하는 KLA ARCHER 10XT는 생산 품질을 평가, 평가, 향상시키는 데 귀중한 도구입니다.