판매용 중고 KLA / TENCOR 2800 #9183007

KLA/TENCOR 2800은 반도체 부품의 최고 품질의 제조 공정을 보장하기 위해 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 반도체 제품의 품질을 극대화하기 위해 완전하고 안전한 (secure) 장치를 제공합니다. KLA 2800 은 시각적 검사 기능을 갖춘 HD 이미징 기술을 활용하여 칩 또는 다이 (die) 구조의 상세한 맵을 작성합니다. 이렇게 하면 시스템이 결함 또는 설계 불규칙성을 식별할 수 있습니다. 통합 결함 감지 알고리즘은 잠재적 결함 및 이상을 식별하는 데 사용됩니다. 이 도구는 고급 피쳐 인식 (advanced feature-recognition), 다이-투-다이 비교 (die-to-die comparison) 및 다이 영역에 대한 자세한 분석을 가능하게 하는 결함 특성 알고리즘과 같은 유용한 기능의 배열을 제공합니다. 자산은 또한 많은 수의 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 디자인을 빠르고 효율적으로 검사할 수 있습니다. 이것은 더 높은 웨이퍼 수율과 더 빠른 생산 주기를 보장합니다. 이 모델은 또한 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 설계를 빠르고 효율적으로 향상시킬 수 있도록 설계 개선 도구를 내장하고 있습니다. 설계자는 설계 최적화 도구 (Design Optimization Tool) 를 사용하여 신속하게 결함을 파악하고 해결책을 설계할 수 있습니다. 설계자가 설계 결함을 파악하고 생산에 결함이 없는지 확인할 수 있는 도구 (영문) 입니다. 또한 TENCOR 2800은 이미지를 자동으로 처리할 수 있는 종합적인 3D 모델과 최첨단 소프트웨어 패키지를 제공합니다. 이를 통해 장비는 금속, 금속 산화물 표면 (metal oxide surfaces) 과 같은 복잡한 패턴을 캡처하고 검사 할 수 있습니다. 시스템은 또한 가장 고급 결함 감지 및 분석 기능을 통합합니다. 다중 모드 결함 감지 기능은 3차원 화질과 정밀도가 우수한 임계 (critical) 및 경미한 결함을 감지합니다. 첨단 기술은 운영 오류 및 미세 패턴 배치 결함을 빠르고 정확하게 감지합니다. 2800 은 생산 수율을 극대화하고 최고 수준의 제품 품질을 보장하도록 설계된 탁월한 마스크 (mask) 및 웨이퍼 (wafer) 검사 장치입니다. 자동화된 설계 최적화 (Design Optimization) 및 결함 감지 (Defect Detection) 기능과 결합된 고급 기능과 기능을 통해 모든 반도체 제조 공정에 이상적인 기계입니다.