판매용 중고 KLA / TENCOR 2351 #9136720

KLA/TENCOR 2350은 반도체 산업에서 사용하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 반도체 웨이퍼 (wafer) 와 마스크 (mask) 의 세부적인 이미지와 측정을 수집하기 위한 고성능, 비용 효율적인 도구입니다. KLA 2350 은 서브미크론 해상도 (submicron resolution) 에서 신속하게 데이터를 수집, 분석하여 빠르고 정확한 웨이퍼 검사, 결함 감지, 품질 관리 기능을 제공합니다. 텐코 2350 (TENCOR 2350) 은 고급 옵틱 설계를 통해 유사한 눈부신 격자 마스크에 비해 해상도 이미징 및 소음 대비 신호 비율이 우수합니다. 또한 고정밀도 플라즈마 기반 MOEMS (Microelectro-mechanical) 스캔 단계를 활용하여 웨이퍼와 마스크를 빠르고 반복적으로 스캔합니다. 2350은 왜곡없이 넓은 시야 (12 "x 12") 를 가지며, 평면 및 원형 구조에 대한 광범위한 검사 작업을 허용합니다. KLA/TENCOR 2350에는 1.3메가픽셀 고성능 센서가 장착되어 있어 빠르고 정확하게 데이터를 수집할 수 있습니다. 이 센서는 브라이트필드 (brightfield), 다크필드 (darkfield), 스티치된 이미지 등 다양한 모드로 구성할 수 있습니다. 또한 다양한 이미지 처리 기능뿐만 아니라 전체 결함 검토, 분류, 비교 도구 (full suite of defect review, classification, and comparison tools) 도 갖추고 있습니다. 고급 마스크 검사 응용 프로그램의 경우, KLA 2350에는 내장 고해상도 복조 시스템이 있으며, 이는 기존 시스템보다 더 많은 정확도를 제공 할 수 있습니다. 복조 장치는 실시간으로 모서리 감지, 결함 격리 및 결함 인식 작업을 수행 할 수 있습니다. 또한 TENCOR 2350 은 성능 향상을 위해 다른 기기와의 통합을 용이하게 해주는 통합 호스트 소프트웨어 아키텍처 (Integrated Host Software Architecture) 를 갖추고 있습니다. 2350은 반복적이고, 신뢰할 수있는 검사, 측정 및 분석이 필요한 어려운 응용 프로그램에 이상적입니다. 리서치 사이언티스트 (Research Scientist) 에서 대용량 생산 라인 (Production Line) 에 이르기까지 다양한 고객의 구체적인 요구에 맞게 구성할 수 있도록 설계되었습니다. 이 기계는 실험실과 프로덕션 환경에서 모두 사용할 수 있으며, 품질 관리 (Quality Control) 를 향상시키고 프로세스 결함을 줄이기 위한 효과적인 솔루션을 제공합니다.