판매용 중고 KLA / TENCOR 2133 #9043942

KLA/TENCOR 2133 은 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사 장비로, 품질 관리 면에서 정밀도를 높이고 제품 고장 속도를 낮출 수 있습니다. 이 시스템은 고해상도 광학 현미경, 이미지 분석 및 결함 검토 장치, 비디오 하위 시스템, 자동 초점 매핑 머신 (focus mapping machine) 으로 구성됩니다. 현미경에는 대형 줌 (zoom) 이 장착되어 있어 크고 작은 기능을 모두 검사 할 수 있습니다. 고해상도 이미징 기능은 가장 작은 결함까지 선명한 영상을 제공합니다. 이미지 분석 및 검토 도구는 수집된 데이터를 처리하여 결함을 식별하고 분류합니다. 또한 결과를 나중에 참조하고 분석할 수 있도록 데이터베이스에 저장합니다. 비디오 서브시스템 (Video Subsystem) 은 검사된 웨이퍼의 비디오를 기록하고 표시하여 품질 제어를 위한 중요한 시각적 정보를 제공합니다. 속도 향상을 위해 초당 최대 500 프레임을 고속 캡처할 수 있습니다. 자동 포커스 매핑 (automated focus) 에셋은 전체 웨이퍼를 스캔하여 실시간으로 포커스를 조정하여 전체 표면에서 균일성을 보장합니다. 클라 2133 마스크 (KLA 2133 Mask) 와 웨이퍼 검사 (Wafer Inspection) 모델에는 일관된 온도를 유지하고 검사 조건에 습도가 영향을 미치는 것을 방지하는 통합 환경 챔버가 포함되어 있습니다. '소음 수준' 이 낮아 '산만' 을 최소화하고 '환경 관리' 를 엄격하게 유지함으로써 안전하고 신뢰할 수 있는 작업 환경을 구축할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 제품 품질과 관련된 모든 업계 표준을 충족합니다. RoHS 규격을 준수하며 SEMI 표준 INTERSEMI와 완벽하게 호환되므로 허용되는 모든 수준의 결함을 안정적으로 감지할 수 있습니다. 이 시스템에는 다양한 맞춤형 보고 및 진단 기능도 있습니다. 사용자 친화적 인터페이스 (온라인 자습서 포함) 를 통해 경험이 부족한 운영자도 빠르고 안전하게 완전히 유능해질 수 있습니다. 전반적으로, TENCOR 2133 마스크 및 웨이퍼 검사 장치는 제품의 품질을 보장하기 위한 강력하고 다양한 도구입니다. 다양한 기능, 고해상도 이미징 기능, 자동화, 맞춤형 보고/진단 기능을 갖춘 이 시스템은 제품 무결성을 보호하고 성공을 극대화할 수 있습니다.