판매용 중고 KLA / TENCOR 2132 #293831565

KLA/TENCOR 2132는 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 고품질 반도체 IC (집적 회로) 및 MEMS (마이크로 전기 기계 시스템) 장치 생산을위한 정밀 측정을 제공하도록 설계되었습니다. 이 장치는 강력한, 비접촉 이미징 및 패턴 인식 (pattern recognition) 기술과 자동화된 결함 인식 및 분석을 위한 강력한 플랫폼을 결합합니다. 클라이 2132 머신 (KLA 2132 machine) 은 여러 유형의 결함을 식별하고 분석하기 위해 특별히 설계된 여러 탐지 기술의 조합입니다. 이 도구는 웨이퍼 (wafer) 표면에서 가장 작은 결함까지도 감지 할 수있는 강력한 비 접촉 검사 기술 인 밝은 필드 이미징 (brig field imaging) 을 사용합니다. 또한 에셋을 자동으로 조정하여 최적의 이미지 해상도 (Optimal Image Resolution) 를 제공하는 동적 초점 (Dynamic Focus) 기능이 장착되어 있습니다. 또한, 결함의 희미한 모양과 질감을 분석하기 위해 고급 패턴 인식 기술 (Advanced Pattern Recognition Technology) 이 사용되어 잘못된 양성을 줄이는 데 도움이됩니다. 이 모델은 또한 고급 (Advanced) 알고리즘을 사용하여 결함을 감지하고 분류하는 자동화된 결함 인식 및 분석 기능을 활용합니다. 이 기술은 결함의 크기와 모양을 식별하여 사용자정의 공차 (user-defined tolerance) 와 비교할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 하드웨어와 통합하여 자동화된 결함 분류를 가능하게 하는 고급 검사 (advanced inspection) 소프트웨어를 제공하여 수동 검사 (manual inspection) 를 수행할 필요가 없습니다. 이 시스템은 다른 KLA 제품과의 통합을 통해 보고 및 데이터 분석 (data analysis) 을 간소화할 수 있으며, 시간이 지남에 따라 성능을 추적할 수 있습니다. 또한, 여러 소스의 데이터를 병합하여 대화식 분석/보고 기능을 제공합니다. 이 장치는 또한 적응력이 뛰어나고 사용자 정의가 가능하므로 인라인 (In-Line) 및 오프라인 (Off-Line) 생산에 적합한 도구입니다. 전반적으로, TENCOR 2132는 매우 강력한 IC 및 MEMS 웨이퍼 검사 머신으로, 제조업체에 제품을 검사하는 안정적이고 정확한 방법을 제공하여 고품질 완성을 보장합니다. 비접촉 이미징 (non-contact imaging) 및 자동화된 결함 인식 및 분석을 통해, 이 도구는 운영 프로세스를 향상시키고 수동 검사 (manual inspection) 의 필요성을 줄여주는 능률적인 프로세스를 제공합니다.