판매용 중고 KLA / TENCOR 2132 #293603077

ID: 293603077
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR 2132는 자동화된 결함 감지, 분류 및 보고를 통해 점진적인 웨이퍼 수율 개선을 촉진하기 위해 설계된 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 고해상도 이미징 서브시스템과 강력한 결함 검토 소프트웨어 (Defect Review Software) 및 다용도 처리 장치 (Handling Unit) 를 결합하여 단일 머신에 수정 가능한 결함 이미지와 실행 가능한 결함 보고서를 제공합니다. 마스크 및 웨이퍼 검사 도구는 5 배 및 10 배 광학 확대에서도 표준/고급 노드 마스크 및 웨이퍼 표면을 정확하게 이미지화할 수 있도록 설계되었습니다. 정밀 표면 안정화를 갖춘 완전 전동 광학 단계는 최적화된 신호 대 노이즈 비율 및 최소 이미지 흐림 (image blurring) 을 위해 고성능 5 메가 픽셀 전자 곱셈 전하 결합 장치 (EMCCD) 카메라와 함께 빠르고 효율적인 스캔을 제공합니다. 모든 신호 처리는 자동 flat-field correction 및 fault detection으로 실시간으로 수행됩니다. 강력한 결함 검토 (Defect Review) 소프트웨어를 사용하면 방대한 양의 결함 데이터를 신속하게 정렬하여 추가 조사가 필요한 결함을 파악하고 격리할 수 있습니다. 에셋은 수동 (manual) 및 자동화된 결함 검토 (automated defect review) 를 제공하며, 유연한 사용자 제어 기능을 통해 특정 결함 기준을 설정하고, 수많은 매개변수를 수정하여 높은 충실도, 정확한 보고서를 신속하게 제공합니다. 다용도 처리 (versatile handling) 모델을 사용하면 마스크 및 웨이퍼 검사 장비가 응용 프로그램에 따라 거의 모든 장치 또는 프로세스와 인터페이스 할 수 있습니다. 이 시스템은 단일/다중 단계 프로세스, 완전 자동 데이터 수집/비교, 다양한 애플리케이션에 적합한 구성 가능한 소프트웨어/하드웨어 설정 (Configurable Software/Hardware Settings) 을 모두 지원하는 마찰없는 데이터/정보 자동 전송을 제공합니다. 이 모든 기능을 통해 KLA 2132 는 마스크 및 웨이퍼 검사 요구 사항을 충족하는 안정적이고 효율적인 선택이 가능합니다. 이 장치의 고급 아키텍처 (Advanced Architecture of the Unit) 는 탁월한 성능과 순도 높은 웨이퍼 출력을 제공하여 프로세스 모니터링 및 제어를 향상시켜 고객에게 최고의 품질과 안정성을 제공합니다.
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