판매용 중고 KLA / TENCOR 2132 #293595763

KLA/TENCOR 2132는 프로덕션 라인 환경에서 필요한 최고의 정확성과 정확성을 충족하도록 설계된 완전 자동 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사 장비입니다. 고해상도 카메라, 고급 이미지 처리 기능, 자동화된 3D 측정 기능을 갖춘 KLA 2132 는 다양한 검사 작업을 위한 효율적이고 안정적인 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 모양 (shapes), 크기 (sizes), 기존의 접근 방식으로 감지할 수 없는 방향 (orientation) 을 포함하는 다양한 결함 특성을 측정할 수 있습니다. 지능형 결함 감지 기능 (Intelligent Defect Detection) 및 분류 기능이 포함되어 있어 케이스 비교를 신속하게 수행할 수 있습니다. 여기에는 통합 결함 검사, 고급 웨이퍼 해상도, 두께 측정 및 다중 레이어 검사가 포함됩니다. 3D 측정 (3D measurement) 기능을 사용하면 마스크와 웨이퍼 모두에서 높이 변화를 감지하여 곡면 (curved surface) 에서도 정확한 측정이 가능합니다. 이 장치는 구성 능력이 뛰어나고 확장성이 뛰어나 수많은 사용자 (user) 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 또한, 다양한 사용자 정의 워크플로 (workflow) 로 프로그래밍할 수 있으며, 특정 검사의 매개변수를 빠르고 쉽게 조정할 수 있습니다. 직관적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 는 여러 언어의 설정을 용이하게 하며 측정 데이터를 다양한 형식으로 공유하도록 구성됩니다. TENCOR 2132는 간섭법, 포토 esist 분석, 도량형 이미징과 같은 고급 이미지 처리 기술을 사용하여 매우 정확하고 상세한 검사 결과를 제공합니다. 자동 비전 머신 (Automatic Vision Machine) 은 머신 러닝 (Machine Learning) 과 이미지 인식 (Image Recognition) 기술을 사용하여 결함을 빠르고 쉽게 감지하고 인식하여 검사하는 데 소요되는 정확성을 높이고 시간을 줄입니다. 이 도구는 다양한 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 크기와 호환되므로 반도체 생산 라인에 이상적입니다. 또한 다양한 운영 요구 사항을 충족시켜 고급 프로세스 (Advanced Process) 와의 호환성을 보장하도록 설계되었습니다. 즉, 자산은 항상 최신 운영 기술을 지원할 수 있습니다. 요약하자면, 2132 는 높은 수준의 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 모델로, 정확도와 정확도를 높이고, 감지 시간과 수율을 향상시키고, 생산 비용을 절감할 수 있도록 설계되었습니다. 다양한 구성 옵션을 통해 모든 생산 라인과 반도체 (반도체) 제조업체에 적합합니다.