판매용 중고 KLA / ICOS CI-T120 #9360771

KLA/ICOS CI-T120 Mask & Wafer Inspection Equipment는 반도체 산업에서 사용하도록 설계된 고도의 정밀 측정 도구입니다. 검사과정을 자동화하고, 전반적인 정확성과 효율성을 높일 수 있다. & # 160; 이 시스템은 브라이트필드 레이저 이미징 도구 (brightfield laser imaging tool) 로 구성되며, 이는 마스크 및 웨이퍼에 광학 이미지, 선 패턴, 플랫 서피스 등 다양한 기능을 측정하고 검사하는 데 사용됩니다. 10 메가 픽셀, 풀 컬러, 광학 현미경이 장착되어 있으며 다양한 환경에서 고해상도 이미지를 제공하도록 설계되었습니다. 또한 가변 데이터 캡처 (variable data capturing), 프로그래밍 가능한 참조 구성 (programmable reference configuration), 여러 품질 제어 (quality control) 및 결함 감지 기능 등 성능을 사용자 정의하는 데 사용할 수 있는 다양한 고급 기능을 제공합니다. KLA CI T120 머신은 생산 효율을 극대화하기 위해 설계되었습니다. 데이터 신뢰성을 100% 까지 높여 빠르고, 안정적이며, 정확한 측정 결과를 제공합니다. 이 도구에는 wafer의 넓은 영역에 걸쳐 수직 및 측면 기능을 측정 할 수있는 독특한 '멀티 축 모델 (multi-axis model)' 이 장착되어 있으며, 장거리 현미경과 자동 샘플 스테이지가 결합되어 있습니다. 또한, 에셋은 고급 이미지 처리 및 기능 감지 알고리즘을 지원하며, 이를 통해 미리 정해진 표준에 따라 결함을 확인할 수 있습니다. 또한 ICOS CI T-120 모델은 반도체 제조업체가 특정 요구에 맞게 성능을 조정할 수있는 다양한 기능을 제공합니다. 여기에는 전체 스펙트럼 LED 조명 모듈 (full spectrum LED lumination module) 및 자동 초점 단계 (auto-focus stage) 와 같은 기능이 포함되어 있어 보다 빠르고 정확한 측정이 가능합니다. 또한 올인원 (All-In-One) 통합 데이터 캡처 장비가 장착되어 있어 최대 8 가지 구성을 측정할 수 있습니다. ICOS CI-T120은 사용자 친화적 인 시스템으로, 소프트웨어 컨트롤과 직관적인 사용자 인터페이스를 갖추고 있습니다. CI T-120 마스크 및 웨이퍼 검사 장치 (CI T-120 Mask & Wafer Inspection Unit) 는 반도체 제조업체가 정확도, 속도 및 효율성을 극대화할 수 있도록 설계된 고급적이고 안정적인 도구입니다. 이 제품은 다양한 기능과 기능을 제공하며, 사용자 (user) 의 특정 요구에 맞게 맞춤형으로 구성할 수 있습니다. 탁월한 이미징 기능, 자동 측정, 고급 결함 감지 알고리즘 (Advanced Defect Detection Algorithm) 의 조합으로, 이 기계는 놀라운 정확성과 신뢰성을 제공하며 뛰어난 ROI (투자 수익) 를 제공합니다.