판매용 중고 KLA / ICOS CI 9250 #9103722

KLA/ICOS CI 9250 은 최첨단 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사 장비로, 고급 이미징 기술과 분석 소프트웨어를 활용하여 반도체 업계에 탁월한 검사 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 하드웨어와 소프트웨어 구성 요소를 결합하여 다른 검사 시스템을 능가하는 빠르고, 정확하며, 신뢰할 수 있는 결과를 제공합니다. 하드웨어 방식의 KLA CI 9250은 특허 받은 이미징 플랫폼을 사용하여 회로 패턴의 고해상도 이미지를 제공합니다. 이 장치는 또한 공중 스캐닝 (aerial scanning) 이라는 레이저 간섭법 (laser interferometry) 기술을 사용하여 공칭 치수에서 웨이퍼의 전체 편차를 결정하는 데 사용되는 3D 지형 피쳐 맵을 수집합니다. 그런 다음 이러한 스캔 기술에서 수집 한 데이터로 검사 및 분석 프로세스를 수행합니다. 이 기계의 소프트웨어는 고속 알고리즘 처리 엔진 (rapid algorithm-processing engine) 으로 개발되어 여러 위치의 데이터를 처리할 수 있습니다. 이를 통해 ICOS CI 9250은 수정 조치를 적용하고 최적의 원료 활용 및 생산량을 제공 할 수 있습니다. 또한, 이 도구의 고급 알고리즘은 미묘한 패턴 결함 (pattern defect) 과 왜곡 (distortion) 을 인식하여 제품의 최고 품질을 보장할 수 있습니다. 또한, CI 9250은 10um 이하의 가장 작은 기능과 패턴을 검사 할 수 있습니다. 고급 다이오드 어레이 검출기 (advanced diode array detector) 는 검사하기 위해 다른 신호를 선택할 수있는 높은 감도를 가지고 있습니다. 이것은 전반적인 정확도를 향상시키고, 존재할 수있는 결함을 감지 할 수 있습니다. 전반적으로, KLA/ICOS CI 9250은 고급 하드웨어 및 소프트웨어 구성 요소를 결합하여 고객에게 최상의 검사 솔루션을 제공하는 혁신적인 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 검사 자산입니다. 이 모델은 하드웨어와 소프트웨어 (Software) 기능을 결합하여 정확하고 고품질의 결과를 얻을 수 있으며, 최적의 원료 활용도 (Raw Material Utilization) 와 수익률을 보장합니다.