판매용 중고 KLA / ICOS CI 8250 #293591794

KLA/ICOS CI 8250은 효율적이고 강력한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 반도체 생산 라인의 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 이 시스템의 주요 목표는 "마이크로일렉트로닉스 (microelectronics) '생산의 결함 감지· 예방에서 높은 성능과 정확성을 제공하는 것이다. 그것 은 "마스크 '와" 웨이퍼' 층 의 미세 한 결함 까지도 감지 하여 생산 "라인 '에서 빠른 속도 를 제거 할 수 있다. KLA CI 8250 장치에는 고급 하드웨어, 소프트웨어, 옵틱이 장착되어 있어 웨이퍼, 마스크 수준의 결함을 정확하게 감지할 수 있습니다. 고성능 Optic이 가장 작은 결함을 감지하여 뛰어난 감지 및 분석 결과를 얻을 수 있습니다. 또한, 기계는 최대 16 미크론 깊이의 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 레이어의 고해상도 이미지를 스캔 할 수 있습니다. 이러한 선명한 이미지를 통해 레이어 (layer) 에 나타나는 결함을 신중하게 분석하고 신속하게 검사할 수 있습니다. 이 도구에는 안전 실패 (Fail Safe) 기능이 있습니다. 이 기능은 감지 임계값을 초과하는 결함만 식별하고 수정할 수 있습니다. 이것은 생산 라인을 떠나는 마이크로 일렉트로닉 (microelectronic) 장치의 품질을 보장하는 중요한 도구입니다. 또한 자산은 자동 검사 (automated inspection) 프로세스를 지원하여 결함 누락 가능성을 최소화하고 인적 오류 (human error) 를 줄입니다. ICOS CI-8250 모델은 기존 운영 라인에 쉽게 통합될 수 있으며, 최소 설정이 필요합니다. 또한 유연성이 높으며 생산 라인 (production line) 의 정확한 요구사항과 사양에 맞게 사용자 정의할 수 있으므로 결함 감지 (detection) 및 수정 (correction) 시 효율성과 정확성이 향상됩니다. 또한, 이 장비에는 사용자 친화적 인 인터페이스 (User Friendly Interface) 가 포함되어 있어 작동이 쉽고 다른 모드 간에 빠르게 전환하고 다른 하위 시스템을 검사할 수 있습니다. 전반적으로, KLA/ICOS CI-8250은 반도체 산업의 엄격한 요구를 충족시키기 위해 설계된 효율적이고 강력한 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템입니다. 이 장치의 고급 하드웨어 (Advanced Hardware), 소프트웨어 (Software), 광학 장치 (Optics) 를 통해 가장 작은 결함까지 탐지 및 제거하여 품질 제품만 생산할 수 있습니다.