판매용 중고 KEM / KOKUSAI VR-120SD #9095788

KEM/KOKUSAI VR-120SD는 모든 종류의 표면 결함, 오염 및 프로세스 변형을 감지하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 얕은 트렌치 격리 (STI) 와 다양한 고급 재료 및 재료 조합 (예: 다양한 기판 및 두께) 을 검사 할 수 있습니다. 이 장치에는 상세한 결함 회수 및 분석을위한 통합 2D/3D 카메라와 Industry 4.0-ready 제조 공정 제어 시스템이 포함되어 있습니다. KEM VR-120SD는 업계 최고의 최신 Furtto D9 검사 알고리즘으로 구동되며, 초고속 이미지 획득과 정확한 결함을 분석할 수 있습니다. 10 "미크론 '이상 크기 의 미세 한 결함 을 거짓 경보 속도 없이 정확 하게 측정 할 수 있다. 이 도구는 저항성 (Resistivity), 스트레스 (Stress), 구성 (Composition) 등과 같은 고급 도량형의 STI와 측면을 모두 스캔하도록 구성되며, 최대 정확성이 보장됩니다. 에셋의 직관적인 UX/UI 및 사용자 친화적 인 터치스크린 인터페이스 (TouchScreen Interface) 는 사용자가 검사 프로세스를 단순화하는 이해하기 쉬운 인터페이스를 제공합니다. 또한, 검사 매개변수를 사용자정의하기 위한 다양한 옵션이 제공되므로 일관되고 정확한 검사 결과를 얻을 수 있습니다 (영문). 고쿠사이 (KOKUSAI) VR-120SD 는 고품질 이미지를 획득할 뿐만 아니라, 이미지 필터링, 명암비 조정, 결함 분류 등의 고급 기능도 제공합니다. 또한 VR-120SD 는 결함 보고서, EOL (End-of-process) 데이터 수집, 배치 요약 보고서, 다양한 형식의 데이터 내보내기 등 다양한 추가 기능을 제공합니다. 또한, 이 모델은 개방형 아키텍처 (open architecture) 로 설계되어 테스트/프로세스 제어 환경의 다른 장치와 효율적으로 통합되어 생산성 향상, 주기 단축 등의 효과를 제공합니다. 결론적으로, KEM/KOKUSAI VR-120SD는 강력하고 다양한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 광범위한 결함을 감지 할 수 있습니다. 이 시스템은 이미지 캡처 (image capture), 분석 (analysis) 과 같은 고급 기능을 제공할 뿐만 아니라 배치 요약 보고서 (batch summary report) 와 직관적인 UI (UI) 등의 추가 기능을 활용하여 검사 프로세스를 단순화할 수 있습니다.