판매용 중고 IRVINE OPTICAL Ultraspec III #39811

IRVINE OPTICAL Ultraspec III
ID: 39811
Wafer inspection station NIKON Optiphot DIC Optics Isolation table.
IRVINE OPTICAL Ultraspec III는 생산 및 연구 개발 실험실에 사용하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 고급 옵틱과 3D 이미징 기술을 활용하여 효율적이고 고품질 검사 결과를 제공합니다. 이 시스템은 포토 마스크, 디스플레이, CMOS 장치, 기타 집적 회로 등 다양한 웨이퍼 기판을 테스트하는 데 적합합니다. Ultraspec III는 몇 가지 구성 요소를 사용하여 효율성과 성능을 극대화합니다. 자동화 된 웨이퍼 핸들러 (automated wafer handler) 는 동력 플랫폼을 사용하여 기판을 회전하고 배치하여 최적의 검사를 수행합니다. 고해상도 렌즈는 기판의 이미지를 캡처하여 세부적이고 드러내는 이미지를 제공합니다. IRVINE OPTICAL Ultraspec III에는 고급 이미지 분석 소프트웨어도 장착되어 있습니다. 정적 (static) 이미지와 동적 (dynamic) 이미지를 모두 캡처하여 신속하게 샘플을 분석할 수 있습니다. 기본 제공되는 알고리즘을 통해 자동으로 결함을 파악하여 이미지 (image) 에 표시 (mark) 할 수 있습니다. 이 소프트웨어에는 포괄적인 데이터 관리 기능도 포함되어 있으며, 사용자는 이미지, 분석 정보, 기타 데이터를 저장할 수 있습니다. 또한 Ultraspec III는 통합 장치 수준 테스트 포트를 제공합니다. 이 포트는 컴퓨터를 다른 테스트 환경 (예: prober) 으로 확장하는 데 사용됩니다. 또한 이 포트를 사용하면 추가 검사 작업을 전체 공구 작업에 쉽게 통합할 수 있습니다. IRVINE OPTICAL Ultraspec III는 자산을 제어하기 위해 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공합니다. 사용하기 쉬운 메뉴 방식 메뉴 모델을 통해 모든 장비 기능에 액세스할 수 있습니다. 또한 모든 조정 (adjust) 과 매개변수 (parameter) 는 비휘발성 메모리에 저장되므로 사용자는 시스템을 신속하게 설치 및 실행할 수 있습니다. Ultraspec III는 다양한 마스크 및 웨이퍼 생산 응용 분야에 이상적입니다. 고급 광학 및 이미징 기술은 간격 (gap), 오버레이 (overlay) 및 중요 치수 검사 (critical dimensions inspection) 와 같은 응용 프로그램에 대해 안정적이고 정확한 검사 프로세스를 제공합니다. 또한 통합 장치 수준 (unit-level) 테스트 포트와 사용자 친화적 인터페이스 (user-friendly interface) 를 통해 새로운 웨이퍼 및 기판의 신속한 프로토 타이핑 및 테스트가 가능합니다.
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