판매용 중고 INTEK PLUS IPIS-LWI1600L #9396010

INTEK PLUS IPIS-LWI1600L은 사용자에게 고해상도, 고감도 광 검사를 제공하도록 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 자동화 샘플 (automated sample) 스테이지 유닛으로 검사할 수 있는 다양한 웨이퍼 크기에 적합합니다. 이 기계는 특허를받은 DFF (Dual Flying Focus) 레이저 조명 도구와 고급 레이저 광원을 사용하여 고해상도 검사 기능을 제공합니다. 또한, 이 자산은 레이저 구동 광학 센서로, 웨이퍼 표면의 정확하고 상세한 검사를 보장합니다. DFF 레이저 조명 모델은 제어 레이저 빔을 사용하여 정확한 조명 초점을 제공합니다. 사용자는 포커스 (focus) 를 제어하고 조정하여 웨이퍼 (wafer) 의 전체 표면에서 가능한 한 균일하게 조명을 조정할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 2 개의 레이저 빔을 결합하여 고해상도 이미지 (high-resolution image) 를 보장하여 고해상도 및 저반사도 영역을 정확하게 검사 할 수 있습니다. IPIS-LWI1600L 시스템에는 고급 레이저 광원 (ALLS) 도 있습니다. 이 기능은 구조화된 광원 환경을 제공하여 처리량을 향상시키는 데 도움이 됩니다. 고급 (Advanced) 알고리즘을 사용하면 Wafer 크기와 모양에 관계없이 알고리즘을 사용하여 광원을 최적의 상태로 유지할 수 있습니다. 또한 ALLS 기능을 사용하면 노출 시간 (Exposure Time) 과 레이저 전력 (Laser Power) 을 제어하여 검사 프로세스의 효율성을 극대화할 수 있습니다. 이 장치는 고대비, 고해상도 이미지를 제공하도록 설계되었습니다. 모든 이미지를 카메라에서 추출하여 디지털 형식 (아카이빙) 으로 저장합니다. 그런 다음 개별적으로 캡처된 컴포넌트를 결합하여 이미지를 실제 색상 매핑으로 생성합니다. 이 기능을 사용하면 모든 결함을 정확하게 식별할 수 있습니다. INTEK PLUS IPIS-LWI1600L 기계는 산업 및 연구 응용 프로그램 모두에 적합합니다. 마지막으로, 이 도구는 안정성과 안정성을 위해 설계되었습니다. 임베디드 에셋 컨트롤러 (Embedded Asset Controller) 는 모델이 항상 보정되고 최적의 성능으로 작동하도록 합니다. 장비의 성능을 더욱 향상시키기 위해 검사 프로세스에는 시각적 (Visual) 알고리즘과 소프트웨어 (Software) 알고리즘이 모두 포함되어 있어 Wafer 결함을 더 잘 확인할 수 있습니다. 또한, 소프트웨어에는 표면 지형, 본드 패드, 칩 매개변수, 광학 플랫 측정 등 다양한 검사가 포함됩니다. 이를 통해 IPIS-LWI1600L은 사용자에게 정확하고 안정적인 검사 솔루션을 제공합니다.