판매용 중고 HITS HXATL-1000 #293670426

HITS HXATL-1000은 다양한 산업 검사 어플리케이션을 위해 설계된 최첨단 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 자동화된 산업 검사를 위해 고급 이미지 분석 (Advanced Image Analysis) 및 처리 알고리즘을 사용하여 하드 마스크 및 웨이퍼의 재료 결함, 외래 입자, 오염 및 기타 결함을 감지합니다. HXATL-1000은 가변 스팟 크기 (Variable Spot Size), 고정 스팟 크기 (Fixed Spot Size) 및 이중 빔 (Dual Beam) 을 포함한 다양한 이미징 모드를 사용할 수 있으며 각 모드는 장치의 EDS 실시간 입자 검사 기능과 결합 될 수 있습니다. [가변 스팟 크기] 모드에서 사용자는 총 입자 수를 계산하고 측정할 수 있습니다. [고정 스팟 크기] 모드는 더 높은 해상도의 더 작은 영역에 중점을 두어 입자를 더 자세히 분석할 수 있으며, [이중 빔] 모드는 마스크 또는 웨이퍼의 두께 차이를 감지하는 데 사용됩니다. 각 이미징 모드는 고유한 성능 및 프로세스 요구 사항을 갖추고 있어 정확성을 보장합니다. HITS HXATL-1000 (HITS HXATL-1000) 은 빠른 스캐닝 속도와 높은 정확성을 지원하는 연속 이미징 머신을 통해 자동화되고 사용이 간편합니다. 이 툴에는 직관적인 소프트웨어 툴이 장착되어 있는데, 이 툴을 사용하면 사용자 정의 이미지 분석 (customized image analysis) 및 처리 프로세스 (processing process) 를 생성할 수 있어 재료 결함, 오염 물질 및 기타 문제를 더 잘 파악할 수 있습니다. 또한, 이 에셋은 간편한 탐색 및 작동을 가능하게 하는 사용자에게 친숙한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 제공합니다. 일관되게 정확한 검사 결과를 얻기 위해 HXATL-1000은 고급 이미징 및 입자 식별 기술을 통합합니다. 이 기능은 동적 시간 임계 처리를 사용하여 입자를 빠르고 정확하게 감지합니다. 또한, 모델의 이미지 분석 (image analysis) 및 비교 (comparison) 기술을 사용하면 마스크 및 웨이퍼의 이미지를 신속하게 비교하고 대조하여 결함 및 기타 오류를 확인할 수 있습니다. HITS HXATL-1000 (HITS HXATL-1000) 은 재료 결함, 오염 물질 및 기타 오염 문제를 빠르고 정확하게 감지하도록 설계된 최첨단 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 고급 이미징 기능, 직관적인 소프트웨어 도구, 사용자 친화적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 마스크 및 웨이퍼 검사 어플리케이션에 적합합니다.