판매용 중고 HITS HFAI-1000D #293670434

HITS HFAI-1000D 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 마스크 및 웨이퍼 검사를 위한 고도로 자동화된 정확도 솔루션입니다. 이 시스템은 최신 반도체 생산 라인의 까다로운 품질 보증, 결함 감지 (fault detection) 및 고급 결함 감지 (advanced defect detection) 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 이 장치는 고급 스트로브, 화이트 라이트 및 UV 조명을 갖춘 고정밀 XYZ 스테이지 및 고급 광원 기술을 갖추고 있습니다. 소형 캐비닛에 내장된 HFAI-1000D는 간편하고 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 간편한 탐색과 정확한 제어를 지원합니다. 생산된 이미지의 품질은 자동 확대/축소 (Auto Zoom), 다크 필드 (Dark Field) 에서 밝은 필드 또는 비스듬히 (Brique Field) 를 포함한 다양한 광학 기술을 적용하여 더욱 향상되어 결함의 크기와 모양을 정확히 파악할 수 있습니다. 또한, 이 기계는 고급 장애 감지 (advanced fault detection) 및 결함 분석 (defect analysis) 기능과 함께 수백 개의 결함 분석에 대한 통합 접근 방식을 제공하여 정확하고 안정적인 검사 결과를 생성합니다. 이 통합 접근 방식은 검증 정확도를 대폭 향상시키고 장애 감지 (fault detection) 및 결함 분석 (defect analysis) 에 소요되는 시간을 단축하도록 설계되었습니다. 이 도구의 최첨단 설계 및 기능은 다른 마스크 및 웨이퍼 검사 시스템과 분리되어 있습니다. 자산은 또한 사용자 정의가 가능하며, 고객의 요구 사항에 따라 다양한 검사 (inspection) 옵션이 제공됩니다. 이 모델은 온디맨드 (on-demand) 프로덕션 지원과 더불어 통합 구성, 최적화된 프로세스, 실시간 주기 측정 기능을 제공합니다. HITS HFAI-1000D 는 SMB (중소, 중견, 성장 기업) 와 대용량 제품에 적합하며 고객에게 최고의 유연성을 제공하도록 설계되었습니다. 또한, HFAI-1000D에는 완전 통합 설계, 자동 수도꼭지 접근 방식, 고속 이미지 기반 위치 결정과 같은 고급 하드웨어 기능도 포함되어 있습니다. 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 기능을 통해 대량의 표면 데이터와 대규모 데이터 세트에 대한 신속한 실시간 결함 분석 (Real-Time Defect Analysis) 을 수집할 수 있습니다. 이 장비에는 자동 결함 인식 (Automatic Defect Recognition) 및 분류 (Classification) 와 같은 고급 이미지 기능이 포함되어 있어 고속 시각적 검사를 지원합니다. 전반적으로 HITS HFAI-1000D Mask & Wafer Inspection 시스템은 안정적이고 효율적인 성능이 필요한 반도체 제조업체를 위한 고급 솔루션입니다.