판매용 중고 HITACHI LA-3100 #293643617

HITACHI LA-3100 Mask and Wafer Inspection Equipment는 사용자에게 웨이퍼 및 마스크의 시각적 검사를 위한 종합적인 검사 시스템을 제공합니다. 이미지 결함을위한 고해상도 컬러 카메라와 결함을 감지하기위한 256K 픽셀 CCD 기반 이미징 칩이 특징입니다. 이 장치에는 12 비트 A/D 변환기와 결함을 감지하기위한 여러 이미지 처리 알고리즘이 제공됩니다. 전체 (full) 및 부분 (partial) 검사를 모두 지원하며 웨이퍼 (wafer) 또는 마스크 (mask) 에 존재하는 다양한 유형의 결함을 인식 할 수 있습니다. 시스템 상의 사용자 친화적 (user-friendly) 소프트웨어는 공구의 다양한 기능과 제어 매개변수를 쉽게 탐색할 수 있게 해 줍니다. 자산 가동 시, 사용자는 확대/축소, 초점 및 기타 매개 변수에 대한 슬라이드 바 (slide bar), 사용자 지정에 대한 표준 메뉴, 다양한 유형의 검사를 위한 여러 패키지에 대한 액세스 등의 기능을 포함하는 7 "자체 설명 직관적인 모니터로 인사합니다. 이 모델은 또한 뛰어난 데이터 품질을 보장하는 고해상도 디지털 이미지 출력을 제공합니다. LA-3100 은 결함 감지, 밝은 필드/어두운 필드 감지, 결함 분류, 밀도 분석 등 고급 이미지 처리 기능을 제공합니다. 또한 전체 필드, 오른쪽/왼쪽 비교, 수평 검색, 바이너리제이션 (binarization) 등 다양한 검사 모드를 수행할 수 있습니다. 또한, 특정 결함을 더 잘 감지하기 위해 사용자가 설정을 조정할 수 있도록 하는 필터 조건 조정 (filter condition adjustment) 기능이 포함되어 있습니다. 이 장비의 중요한 측면은 유지 관리의 용이성입니다. 사용자는 시스템 유지 관리 및 복구를 완료하는 데 필요한 모든 부품에 쉽게 액세스할 수 있습니다 (영문). 또한 다른 HITACHI 시스템으로 장치 매개 변수를 쉽게 전송할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI LA-3100 Mask and Wafer Inspection Machine은 안정적이고 다양한 검사 도구를 찾는 사용자에게 적합한 선택입니다. 또한 다양한 Wafer 및 Mask 결함을 감지, 정렬, 분석할 수 있는 고급 기능과 기능을 제공합니다. 이 자산에는 탁월한 사용자 지원 (User Support) 이 포함되어 있어 업데이트 및 정보를 빠르고 쉽게 수신할 수 있습니다.