판매용 중고 HIMS NMI-100 #9236870

HIMS NMI-100
ID: 9236870
Defect inspection system.
HIMS NMI-100은 기술적으로 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 모든 유형의 반도체 웨이퍼에서 고해상도 검사 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 성능은 매우 뛰어나며, 결함과 이변을 신속하게 파악할 수 있습니다. NMI-100 은 매우 정확한 검토/분석 이미지를 제공하는 강력한 광 시스템을 갖추고 있습니다. 고급 광학 및 렌즈를 사용하여 높은 배율과 선명도를 제공합니다. 광학 장치에는 고해상도 CCD 카메라와 자동 초점기가 포함됩니다. 또한 입자를 감지하고 웨이퍼 형상을 정확하게 측정하기위한 3 색 필터가 있습니다. 또한, 결함을 신속하게 파악하고 찾을 수 있는 자동화된 결함 맵 (defect map) 기능이 있습니다. HIMS NMI-100에는 데이터 수집, 분석 및 보고를위한 고속 소프트웨어 패키지가 포함되어 있습니다. 다른 시스템에 쉽게 통합할 수 있도록 다양한 이미지 형식을 지원합니다. 이 소프트웨어에는 다양한 유형의 결함을 식별하고 분류할 수 있는 결함 인식 엔진 (defect recognition engine) 도 포함되어 있습니다. 소프트웨어는 필요한 경우 각 결함 및 경고 연산자에 대한 자세한 정보를 제공합니다. NMI-100 은 실시간 데이터 수집 및 처리를 위한 강력한 컴퓨터 툴도 갖추고 있습니다. 여기에는 빠른 이미지 처리 및 향상된 자동화를 위한 전용 메모리와 프로세서가 포함됩니다. 이 자산은 또한 여러 로봇을 제어하여 효율성과 정확성을 높일 수 있습니다. 또한, 일관된 결과를 얻기 위해 더 큰 검사 이미지, 레시피 데이터베이스를 포함하도록 설정할 수 있습니다. HIMS NMI-100은 강력하고 사용하기 간단합니다. 설치 및 작동이 쉽고 유지 보수가 최소화됩니다. 첨단 옵티컬 (Optical) 및 컴퓨터 (Computer) 시스템을 사용하면 안정적인 결과를 얻을 수 있고, 빠른 기술 변화를 유지할 수 있습니다. 마스크 (Mask) 와 웨이퍼 (Wafer) 검사를 위한 탁월한 선택이며, 이상을 감지하는 빠르고 효율적인 방법을 제공합니다.
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