판매용 중고 HERMES MICROVISION / HMI eScan 400 #293666956
URL이 복사되었습니다!
ID: 293666956
E-Beam defect inspection system.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 400은 반도체 제조업체를 위해 설계된 고성능, 정밀 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 고급 시스템은 고급 설계 마스크 및 웨이퍼에서 작은 결함을 감지하여 초당 1 억 픽셀 (pixel) 을 검사할 수 있습니다. HMI eScan 400 에는 탁월한 결함 감지 및 패턴 인식 기능을 제공하는 강력한 레이저 분광기와 정확한 결함 측정 및 분석을 보장하는 고해상도 CCD 카메라가 장착되어 있습니다. 이 장치는 또한 3D 이미징 기술을 사용하며, 이는 나노미터 수준에서도 결함을 감지하고 정량화할 수 있습니다. 패턴 인식 알고리즘을 사용하여 HERMES MICROVISION eScan 400은 마스크 및 웨이퍼 재료에서 매우 작은 불규칙성과 오염 물질을 감지 할 수 있습니다. 이 기계는 또한 자동 모서리 분석 (automated edge analysis), 오염 감지 (contamination detection), 결함 밀도 분석 (defect density analysis) 등 다양한 자동 테스트 기능을 통합하여 검사 프로세스와 관련된 시간과 비용을 최소화합니다. 또한, 자동화된 프로세스 (automated process) 를 통해 대용량 데이터를 보다 신속하게 처리, 분석할 수 있으며, 높은 수준의 정확성을 보장합니다. EScan 400 은 모듈식 (modular) 으로 제작되어 향후 요구 사항과 다양한 작업을 처리할 수 있도록 설계되었습니다. 자동화된 위치 감지 도구를 사용하면 다양한 모양, 크기, 재료의 결함을 정확하게 감지, 측정, 보고할 수 있습니다. 또한, 이 자산은 유연한 소프트웨어 플랫폼을 사용하여 추가 작업 (task) 을 프로그래밍하고 분석 (analysis) 을 사용자 정의할 수 있습니다. HERMES MICROVISION/HMI eScan 400은 마스크와 웨이퍼 검사 프로세스에 혁명을 일으키고 있습니다. 비용 효율적이고 견고한 디자인과 결합된 고성능 (HPD), 정밀도 (Precision) 는 반도체 제조업체에 이상적인 모델입니다.
아직 리뷰가 없습니다