판매용 중고 HERMES MICROVISION / HMI eP3 XP #9232256

HERMES MICROVISION/HMI eP3 XP는 최첨단 하드웨어, 소프트웨어 및 사용자 친화적 도구로 개발된 고성능 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 첨단 기술 (Advanced Technology) 로 제작된 이 제품은 매우 다양한 마이크로일렉트로닉 (Microelectronic) 장치를 최고 수준의 정확성과 신뢰성으로 검사하도록 설계되었습니다. HMI eP3 XP는 사용자 지정 및 고유 알고리즘을 사용하여 마스크 및 웨이퍼 패턴을 효과적이고 정확하게 검사 할 수 있습니다. 이 시스템에는 복잡하고 복잡한 기능을 포함하여 다양한 패턴을 검토할 수있는 정교한 알고리즘이 포함되어 있습니다 (영문). 그 검사 능력은 유전자형 크기 (genotypic size), 곡물 구조 (grain structure), 에치 깊이 (etch depth) 와 같은 다양한 매개변수를 고려하여 포괄적이고 효율적입니다. HERMES MICROVISION eP3 XP는 또한 효율적이고 쉬운 작동을 위해 고급 사용자 친화적 인 도구를 제공합니다. 주요 기능에는 직관적인 인터페이스, 통합 패턴 편집기, 실시간 데이터 비교, 더 나은 시청 환경을 위한 와이드 포맷 디스플레이 (Wide Format Display) 등이 있습니다. 이 장치에는 더 큰 검사 영역, 장거리 이미징 머신 (Long-Range Imaging Machine), 보다 자동화된 기능과 같은 더 많은 적용 범위를 위한 확장 가능한 옵션도 있습니다. 또한, eP3 XP에는 강력한 분석 및 통계 도구가 있어 사용자가 결과를 분석할 수 있습니다. 분석 기능에는 데이터 분석, 통계 분석 및 추세 분석이 포함됩니다. 이 도구에는 또한 마스크 및 웨이퍼 패턴에 영향을 미치는 성능 문제 (performance issue) 또는 결함 (defect) 을 감지하는 몇 가지 고유 한 알고리즘이 포함되어 있습니다. 마지막으로, HERMES MICROVISION/HMI eP3 XP는 구성 및 운영에서 높은 유연성을 제공합니다. 즉, 애플리케이션의 요구 사항과 복잡성에 따라 자산을 쉽게 재구성할 수 있습니다. 또한, 이 도구는 다양한 스캔 헤드, 모듈식 스테이지, 워크스테이션, 고급 환경 제어 (Environmental Control) 및 온도 안정화 모델에 사용할 수 있습니다. 전반적으로 HMI eP3 XP (HMI eP3 XP) 는 고급, 강력한 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 다양한 어플리케이션에 대한 요구 사항을 성공적으로 충족하도록 설계되었습니다. 사용자 정의 알고리즘, 직관적인 사용자 친화적 도구, 강력한 분석 기능, 유연성 등을 갖춘 이 시스템은 효율적이고, 안정적이며, 정확한 검사를 제공합니다.