판매용 중고 ESI / MICROVISION MVT 7080 #293607230

ID: 293607230
웨이퍼 크기: 8"
Wafer inspection station, 8" (4) Cassettes wafer sorter.
ESI/MICROVISION MVT 7080은 반도체 검사를 위해 설계된 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 고급 광/소프트웨어 기술을 결합하여 복잡한 마스크와 웨이퍼에 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. 이 시스템은 개방, 짧은, 격리 및 레이아웃 결함, 입자, 오염 물질, photomask 결함을 포함한 다양한 결함을 감지 할 수 있습니다. 이 장치는 강력한 현미경 영상기 (microscope imaging machine) 를 사용하여 마스크와 웨이퍼의 자세한 이미지를 캡처합니다. 현미경은 4X (Telecentric Zoom Optics) 를 특징으로하며 고해상도 이미지를 반복 가능한 방식으로 캡처 할 수 있습니다. 이미징 도구에는 마스크 또는 웨이퍼의 표면 세부 (surface details) 를 검사하는 필터 및 광원이 포함됩니다. 이미지 캡처 자산은 컴퓨터 제어 XY 단계에 연결되어 픽셀 레벨 스캔을 허용합니다. 검사 모델에는 특수 자동 결함 분석 도구가 장착되어 있습니다. 분석 도구 (analysis tool) 는 이미지 처리 알고리즘을 조합하여 결함을 감지하고 분석할 수 있습니다. 알고리즘은 미리 정의된 라이브러리 데이터를 사용하여 결함 관련 특성을 정확하게 결정합니다. 소프트웨어에는 사용자 인터페이스 (user interface) 가 장착되어 있어 설정을 쉽게 조작하고 결함 관련 매개변수를 자동으로 계산할 수 있습니다. ESI MVT 7080은 올인원 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로 설계되었습니다. 모듈식 (modular) 설계를 통해 다른 시스템과 쉽게 통합되어 빠르고 쉽게 설치할 수 있습니다. 이 시스템은 오프사이트 관리 및 모니터링을 위해 네트워크 접속을 통해 원격으로 작동할 수도 있습니다. 24/7 작동을 위해 설계되었으며 고품질 및 정밀도를 유지합니다. 전반적으로 MICROVISION MVT 7080은 고급 마스크 및 웨이퍼 검사 장치입니다. 강력한 광학 및 소프트웨어 기술을 결합하여 복잡한 결함을 감지하고 분석합니다. 모듈식 설계를 통해 설치와 통합이 간편해지고, 24/7 작동이 가능하도록 시스템이 설계되었습니다. 따라서 이 도구는 반도체 응용 프로그램의 결함을 감지하고 분석하는 데 이상적인 선택이 됩니다.
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