판매용 중고 ESI / MICROVISION MVT 5080 #9088287

ESI/MICROVISION MVT 5080은 반도체 제조업체를 겨냥한 탁월한 성능을 제공하는 마스크 및 웨이퍼 검사 장비입니다. 이 시스템은 완벽한 마스크 검사 (full mask inspection) 를 위한 최고의 처리량을 제공하며, 가장 까다로운 요구 사항에 맞게 다양한 검사 속도를 제공합니다. 이 장치는 수율 손실 방지 광학 조명 엔진, 2 개의 선형 어레이 카메라, 자동 초점 및 레이저 정렬, 고급 줌 광학, 고급 제어 알고리즘으로 구성됩니다. 선형 어레이 (Linear Array) 카메라는 스캔 지점당 여러 이미지를 고해상도로 캡처할 수 있어 검사 품질이 우수합니다. 자동 초점 조정 (auto-focusing) 및 레이저 정렬 (laser alignment) 메커니즘을 사용하면 가장 적합한 초점 설정을 사용하여 검사 단계를 빠르고 쉽게 정렬할 수 있습니다. 시스템 내의 고급 옵틱을 사용하면 최대 20um/s 의 스캔 속도를 통해 빠르고 정확하게 검사할 수 있습니다. ESI MVT 5080의 제어 알고리즘에는 다이 배치 확인 (die placement verification), fiducial 인식 (fiducial recognition) 및 모서리 선명도 이상 감지 (edge sharpness anomaly detection) 등 효율적인 결함 감지를 위한 다양한 기능이 포함되어 있습니다. 스택 플랫 컨트롤이 내장되어 있으므로 전체 이미지 시리즈에서 결함 이미지를 정확하게 캡처할 수 있습니다. 다양한 이미지 처리 필터가 도구 내에 통합되어 검사 (Inspection) 환경에 향상된 적응성을 제공합니다. 터치 스크린 사용자 인터페이스 (Touch Screen User Interface) 는 직관적이며 빠른 학습 곡선을 제공하여 모든 경험 수준의 운영자가 Naked 및 Wafer 검사 자산을 사용할 수 있도록 합니다. 또한, 이 모델은 완전히 맞춤형으로 구성할 수 있으며, 따라서 사용자는 장비의 요구 사항에 맞게 빠르고 쉽게 조정할 수 있습니다. MICROVISION MVT 5080은 100nm의 정확도로 결함을 감지 할 수 있으며, 최대 검사 속도는 최대 20um/s입니다. 이 시스템의 샘플링 속도는 초당 4 백만 포인트, 최대 시야는 6mm입니다. 또한, 이 장치는 false-positive 및 false-negative 오류를 줄여 효율적이고 정확한 결함 감지 및 분류를 보장하도록 설계되었습니다. MVT 5080은 모든 반도체 제조 어플리케이션에 이상적인 선택으로, 뛰어난 감지 정확도, 제어 기능, 직관적인 사용자 인터페이스를 제공합니다. 이 기계의 효율적이고, 안정적인 성능은 현대 반도체 생산 라인에 필수적인 검사 도구입니다.