판매용 중고 ESI / MICROVISION 3900 #9255769

ID: 9255769
빈티지: 1997
IC Mark / Lead inspection system 1997 vintage.
ESI/MICROVISION 3900은 최첨단 마스크 및 웨이퍼 검사 장비로, 고급 검사 기술의 장점과 정교한 이미지 분석 기능을 결합한 제품입니다. 이 "시스템 '은 최대 0.25" 미크론' 의 정밀도 로 폭 이 0.2 "미크론 '정도 되는" 마스크' 와 "웨이퍼 '의 결함 을 정확 히 식별 할 수 있다. 이 장치에는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 가 장착되어 있어 결과를 쉽게 평가할 수 있고, 특정 요구에 따라 검사 설정과 매개변수를 사용자 정의할 수 있습니다. ESI 3900은 입자, 긁힘, 피팅, 브리징, 변색 및 덴트와 같은 광범위한 결함을 감지 할 수 있습니다. 기계는 검사 열, 이미징 광학 (Imaging Optics) 및 조명원 (Illumination Source) 을 포함한 여러 구성 요소로 구성됩니다. 검사 (Inspection) 열은 현미경으로 드러나면서 이미징 성능을 최적화하고 작은 결함을 정확하게 감지하도록 설계되었습니다. 이미징 광학 (imaging optic) 은 높은 명암과 해상도를 제공하도록 조정되었으며, 조명원 (illumination source) 을 조정하여 결함의 가시성을 극대화합니다. 마이크로비전 3900 (MICROVISION 3900) 에서 검사한 각 마스크 및 웨이퍼 (wafer) 에 대해, 각각의 정확한 결함 감지를 요약 한 일련의 이미지를 제공하는 세부 보고서가 제공됩니다. 또한, 이 도구는 이전 검사 기술에서 눈에 띄지 않는 소규모 (small-scale) 피쳐를 식별할 수 있습니다. 이 에셋은 또한 마스크 (mask) 및 웨이퍼 (wafer) 생산 라인과 쉽게 통합되도록 설계된 여러 가지 호환성 모드를 제공합니다. 요약하면, 3900은 정확하고 안정적인 결과를 제공하는 최상위 마스크 및 웨이퍼 검사 모델입니다. 이 장비는 최첨단 이미징 광학 장치 (optic-of-the-art imaging optics) 와 특정 요구 사항에 맞게 간편하게 조정할 수 있는 직관적인 소프트웨어를 통해 탁월한 결함 감지 기능을 제공합니다. 또한, 이 시스템은 결과에 대한 상세한 보고서를 작성할 수 있으며, 최신 생산 라인과 쉽게 통합됩니다.
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