판매용 중고 CEI 651 #9271495

CEI 651은 안정적이고 반복 가능한 품질 보증 및 프로세스 제어를 위해 설계된 고성능 자동 마스크/웨이퍼 (wafer) 검사 장비입니다. 이 시스템은 최신 컴퓨터 비전 (computer vision) 하드웨어 및 소프트웨어를 직관적이고 사용하기 쉬운 플랫폼에 통합합니다. 651은 정확하고 반복 가능한 이미징을 위해 고급 조명 기술을 사용합니다. 이 장치는 동적 조명 (Dynamic Lighting), 투영 (Projection) 및 이미징 (Imaging) 기술을 사용하여 사소한 표면 이상을 감지하여 정확한 결함 특성을 얻을 수 있습니다. CEI 651은 또한 소음을 최소화하면서 고품질의 고해상도 이미지를 캡처하는 강력한 카메라 머신을 갖추고 있습니다. 이를 통해 표면 품질 검사와 더 정확한 결함 탐지가 개선됩니다. 정확성을 보장하기 위해 651은 에지 감지, 필터링, 패턴 인식 등 여러 가지 고급 이미지 처리 기술을 제공합니다. 이러한 모든 피쳐를 사용하면 복잡한 마스크 및 웨이퍼 서피스의 결함을 빠르고 정확하게 식별할 수 있습니다. 이 자산은 또한 고급 데이터 분석 알고리즘 (advanced data analysis algorithms) 을 제공하여 분석 결과에 대한 향상된 연산자 이해를 용이하게합니다. 또한 CEI 651은 OIA (Optical Image Analyzer) 와 같은 고급 결함 분석 도구도 제공합니다. 이 OIA를 사용하면 참조 이미지를 표본 이미지와 빠르고 쉽게 비교할 수 있습니다. 즉, 참조 이미지 (reference image) 를 보다 자세히 평가할 수 있습니다. 이것은 OIA와 함께 핀홀 (pinhole) 결함 및 기타 사소한 표면 피쳐를 검사하는 데 사용될 수 있습니다. 651은 고품질 마스크와 웨이퍼 (wafer) 의 생산에 필수적인, 신뢰성 있고 반복 가능한 품질 보증 및 프로세스 제어 소스를 제공합니다. 고급 조명, 카메라, 이미지 처리 기술, 고급 결함 분석 도구 (Advanced Defect Analysis Tools) 를 통해 복잡한 표면의 결함을 정확하게 파악하고 특성화할 수 있습니다. 빠르고 직관적인 인터페이스를 통해, CEI 651 은 향상된 품질 관리 (Quality Control) 및 비용 효율을 실현하기 위한 사용자 친화적이고 안정적인 수단입니다.