판매용 중고 BROWN & SHARPE MicroVal 343 #9140610

BROWN&SHARPE MicroVal 343 Mask & Wafer Inspection Equipment는 복잡한 반도체 구성 요소의 정밀 검사, 검증 및 분석을 위한 종합적인 솔루션입니다. 이 검사 시스템은 고급 사진 석판 기술을 사용하여 감도가 높은 작은 기능의 정확한 2 차원 및 3 차원 이미지를 제공합니다. MicroVal 343 장치는 최대 0.25 um의 해상도로 다양한 복잡한 형상의 마스크 및 웨이퍼 샘플을 검사 할 수 있습니다. 이 기계의 광학 이미징 도구는 고해상도 파노라마 CCD 카메라와 정밀 LED 광원으로 구성됩니다. 이를 통해 photoresist 패턴, 피쳐 프로파일, 공동을 포함한 모든 피쳐를 높은 정확도로 측정할 수 있습니다. 자산 (Asset) 소프트웨어를 사용하면 다양한 방법으로 분석할 수 있는 이미지를 캡처할 수 있습니다. 예를 들어, 소프트웨어는 패턴을 감지하고 식별하는 한편, 샘플에 지정된 피쳐의 정확한 측정값을 제공합니다. 또한 Edge Detection, OCR, Comparison Features와 같은 소프트웨어 툴을 사용하면 구조와 피쳐의 불일치에 대해 서로 다른 Wafer 를 비교할 수 있습니다. 이 모델은 또한 모든 샘플을 정확하고 안정적으로 테스트하는 자동 정렬 모드 (Automatic Alignment Mode) 를 갖추고 있으며, 광학 장비에 올바르게 고정하기 위해 샘플 이미지를 크기 조정 및 회전시키는 기능까지 제공합니다. 또한 BROWN&SHARPE MicroVal 343 시스템은 최대 200um 크기의 기능을 감지할 수 있으며, 다중 광원 구성으로 반사 (reflection) 및 전송 (transmission) 모드 모두에서 기능을 검사 할 수 있습니다. 전반적으로 MicroVal 343 Mask & Wafer Inspection 장치는 복잡한 반도체 구성 요소를 검사하고, 검증하고, 분석할 수 있는 정확하고 안정적인 도구를 제공합니다. 이 기계는 고급 사진 석판 기술을 활용하여 감도가 높은 작은 기능의 정확한 2 차원 및 3 차원 이미지를 제공함으로써 반도체 산업에서 귀중한 서비스를 수행했습니다.